太克科技（Tektronix）于日前宣布，推出一系列增强功能，扩充其SFF 8431 SFP+ 兼容性测试和除错效能，包括支持只能在示波器上以极快速取样率执行的TWDPc严苛量测。

有了这些增强功能，Tektronix现在便能够为以以太网络为基础的SFF-8431 SFP+物理层测试，提供业界最完备的自动化和除错解决方案。此方案包括一个新的SFP- WDP选项，能自动设定及执行重要的TWDPc量测以及主机兼容电路板和模块兼容电路板量测，以加快用于高速以太网络及光纤信道系统连接器设计的测试设定速度。

Tektronix示波器总经理Roy Siegel表示，太克着重于SFF 8431 SFP+测试，为以太网络设计人员建置一个全方位的测试解决方案，使他们具备深入且准确的洞察力，满足了其设计验证和除错的需求，为他们节省测试时间。例如，太克增强WDP测试支持，透过自动执行复杂的兼容性测试序列来改善测试时间，提供DPO70000示波器每秒100 GS取样率的极可靠测试结果。

SFP- TX最新版本包括一个内建去嵌入功能。由于像SFP +这类与日俱增的数据传输率技术，眼图闭合和某些组件 (如SMA缆线) 必须去嵌入，才能提高测试结果的准确度。有了这项新功能，SFP- TX便能让设计人员使用.FLT档对讯号做去嵌入(de-embed)。