安森美半导体(ON Semiconductor)推出由该公司矽光电倍增器(SiPM)技术实现的单点直接飞行时间(dToF)的光学雷达方案。

安森美半导体(ON Semiconductor)单点直接飞行时间(dToF)的光学雷达方案，展示使用安森美半导体矽光电倍增器(SiPM)感测器专知的直接飞行时间光学雷达

光检测和测距或光学雷达的应用在所有领域都在增长，包括机器人和强制要求毫米范围精准度的工业接近感测。它通常基於dToF方法，测量通常在近红外(NIR)波长范围内的一个光脉冲往返於一个物体所需的时间。

尽管原理很简单，但其应用可能会带来挑战性，例如周围太阳光较强等环境因素。 为了准确确定范围，接收器需要捕获尽可能多的讯号。就响应时间和灵敏度而言，传统的光电二极体在这方面会受到影响。安森美半导体开发的矽光电倍增器(SiPM)感测器提供更快的响应时间和高检测效率，克服了这些不足。该叁考平台使用安森美半导体第二代SiPM感测器RB系列，在红色和NIR范围都带来更高的性能。

安森美半导体开发的SiPM dToF 光学雷达平台提供低成本、单点光学雷达的完整方案，原始设备制造商(OEM)可灵活调整并投入生产，以创造工业测距应用。 它包括NIR激光二极体、SiPM感测器和光学元件，以及将检测到的讯号转换为经过时间，以及将经过时间转换为距离所需的数位处理。

为加快客户的上市时间，安森美半导体提供该叁考平台的所有设计数据，涵盖原理图、物料单(BoM)、gerber文件和PCB设计文件。 客户还可以存取基於PC的图形使用者介面(GUI)，提供随时间变化的测量结果的图形。产生的直方图进一步证明该系统在测距、碰撞检测和3D制图等应用的能力。

安森美半导体物联网主管Wiren Perera表示：「使用dToF 光学雷达进行测距，满足了许多应用的关键需求，从自主导航到地图绘制到监控。 但是，开发以dToF 光学雷达为基础的系统可能具有挑战性。我司的这个平台显然证实这领先技术的效用。有了经验证的设计，客户就能更快地进行概念验证，并迅速将产品推向市场。」

SiPM dToF光学雷达平台可检测10??米至23米距离的物体。 使用提供的GUI提供开箱即用(out-of-the-box)的体验，使工程师可以立即开始评估该技术。该设计已获得美国食品和药物管理局(FDA)一类认证，并符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040.10 / 1040.11雷射安全标准。