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Credence推出新一代非挥发内存测试设备
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2005年03月15日 星期二

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半导体测试设备业者Credence宣布推出新一代非挥发性内存(NVM)与嵌入式组件测试设备Kalos 2 Hex,该设备是Kalos 2家族最新的成员,除在逻辑测试能力上有所加强,也搭配相关的软件工具,在软硬件方面与生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2兼容;该公司表示目前已经有多台K2 Hex系统完成装机并用于复杂嵌入式组件的测试。

Credence总裁兼执行长Dave Ranhoff表示,Kalos 2 Hex系统具备可测试多种储存组件和嵌入式内存的逻辑组件的灵活性,该设备的系统结构使其可以很容易的在不同类型组件的测试间进行切换。除了可测试不同类型的组件,该低成本的生产测试系统还可以在多任务位测试和高管脚测试间切换。

Credence表示,客户也能由Kalos 1 Hex系统转移到K2 Hex系统,因为两种系统的探针卡完全兼容;相近的测试程序和调试工具也简化了从Kalos 1到Kalos 2的转换。此外该设备还具备高吞吐量、小占地面积和低功耗的优势,可将测试成本有效降低。

K2 Hex亦可以提供200 MHz 有效测试频率和每个周期四个时序沿的资源,满足目前最先进的NVM和嵌入式内存组件的测试要求。K2 Hex 系统支持工程验证、特征分析和生产测试,亦可缩短产品量产时程。

關鍵字: 半导体制造与测试 
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