Tektronix（太克科技）推出针对开放式NAND快闪介面（ONFI）标准的测试解决方案。 ONFI 4.0测试解决方案可用于Tektronix高效示波器，包括可分析ONFI汇流排上DDR2/3模式的软体，以及介面板为基础的有效探测解决方案。

结合适用于ONFI 4.0标准的相容性测试软体和使用Nexus介面板的有效探测。

ONFI标准由ONFI工作小组发布，以简化在消费性电子产品和计算平台中整合NAND快闪记忆体的程序。 ONFI 4.0规格引入了进化的NV-DDR3介面，并具有VccQ = 1.2V运作能力，可有效提升效率和提高功耗，将NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度扩展至667 M /s和800 MT/s，并新增了ZQ校准功能。

随着速度的增加和电压位准下降，使用ONFI汇流排的设计人员将面临确保相容性、除错时序问题和存取讯号等挑战。 TEK-PGY-ONFI软体可让设计和测试工程师能测试ONFI介面对ONFI汇流排时间参数的相容性，并提供命令、位址、资料输入和资料输出等事务的自动量测。 TEK-PGY-ONFI软体中的细节视图功能透过使用类比波形注释来协助除错时序问题，从而关联ONFI波形的每个电气量测。

密集封装和高资料速率使得对NAND快闪装置的高完整性讯号存取充满挑战性。 Tektronix为一系列不同的机械式波形因数提供支援，包括插槽式、直接连接和专利的边缘探棒设计，适用于非常严格的机械要求。介面板和探棒的S参数模型可用于建立模型或产生要应用于示波器的去嵌入滤波器。

TEK-PGY-ONFI软体可在具有4GHz-33GHz频率的Tektronix MSO/DPO70000系列示波器上执行，并建议使用P7500或P7300系列探棒进行测试。对于某些ONFI的客户测试，讯号存取可能效果不佳或根本不可用，因此，Tektronix 建议使用由Nexus提供的ONFI 152 ball NAND Flash Edge高完整性介面板，以顺利存取讯号，同时维持讯号完整性。

Tektronix高效能示波器总经理Brian Reich表示：「这个ONFI测试解决方案为我们的客户提供了所需要的各种深入洞察资讯，让他们能将以记忆体为基础的产品更快速、更有信心地推向市场。与手动测试相较，此解决方案将可显著降低相容性测试时间、简化除错程序，最终进而提高生产力。」

全新的TEK-PGY-ONFI软体已加入Tektronix为其他记忆体技术 （包括eMMC、UFS和DDRA） 所提供的全方位解决方案集合。适用于Tektronix示波器和介面卡的Tektronix TEK-PGY-ONFI软体现已上市。