账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES / 文章 /
FPGA考量除错需求之设计
 

【作者: Joel Woodward】2004年06月01日 星期二

浏览人次:【4089】

FPGA技术的优点之一是可以更快速地进入除错阶段,内电路的除错与整合对FPGA的设计人员非常重要,因为几秒钟或是几分钟的内电路验证就可以取代掉数周或甚至数月的模拟时间。今日的FPGA具有相当丰富的功能与高度的整合能力,因此在设计复杂的系统或子系统时非常具有吸引力。然而,除错所需的关键信号往往会躲藏在深处,一般无法直接看到,所以在设计阶段的初期就必须考虑选择一种合适的内电路除错方法。研发团队究竟要如何决定该采用晶片式的逻辑分析仪,或是预先设计一些挂钩(hook),以便外接传统的逻辑分析仪来进行除错?


在设计阶段的初期,开发FPGA系统的工程师就必须有意或无意地做出一些关键的决定,这些决定会影响其设计变成实际的电路之后容不容易除错。除了会影响除错的效率之外,所使用的方法也会对设计本身造成一些冲击。


嵌入式的逻辑分析核心
...
...

另一名雇主 限られたニュース 文章閱讀限制 出版品優惠
一般訪客 10/ごとに 30 日間 5//ごとに 30 日間 付费下载
VIP会员 无限制 20/ごとに 30 日間 付费下载
相关文章
FPGA开启下一个AI应用创新时代
专攻低功耗工业4.0应用 可程式化安全功能添防御
以设计师为中心的除错解决方案可缩短验证时间
移动演算法 而非巨量资料
最大限度精减电源设计中输出电容的数量和尺寸
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BRAJND28STACUK0
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw