量測光纖被動元件的特性時，極化相依損耗（PDL）已經成了標準的量測項目。目前有兩種普遍採用的方法可以量測PDL：極化掃描方法Polarization Scanning Technique以及四態方法（four-state method通常也稱為Mueller方法）。

本篇文章將簡單介紹這兩種量測方法，及其主要的量測挑戰和不確定度的來源，同時還會比較兩者在目前被動元件測試上的實際應用。

極化相依損耗
...
...