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更快速檢視波形才能改變市場區隔
專訪太克科技全球行銷總監Gary McFarlane

【作者: 王岫晨】   2006年01月25日 星期三

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目前電子產業中,嵌入式系統隨處可見。特別在於消費性電子產品、汽車、醫療用途、PC、通訊產品、工業與航太產業等。這些設備傳統上可以採用並列匯流排來進行設備與設備間之資料傳遞並與外界溝通,而目前嵌入式系統在設計上,多以串列匯流排例如I2C、SPI與CAN等取代並列匯流排。串列匯流排的單一訊號包括了位址、控制、資料及時脈資訊等,因此在設計的除錯方面將帶給工程師更大的挑戰。為了加速除錯速度,工程師需要具備高度整合串列觸發、通訊協定解碼與分析的示波器,以提供I2C、SPI與CAN等匯流排更好的除錯能力。


太克科技全球行銷總監Gary McFarlane表示,除錯通常需要擷取大量的波形資料,而過長的記憶資料長度通常在螢幕上以數千個畫面來表示,工程師需要從特定設計的資訊資料中來尋找可能發生的問題,因此提高標準記憶體容量來簡化資料搜尋方式,才能更有效率發掘問題並找出解決之道。因此例如以快速旋扭之方式來控制畫面的縮放或取景功能,才能更輕鬆瀏覽畫面並迅速發現需要的波形資料。


《圖一》
《圖一》

在單一示波器中具備更多標準功能將是未來示波器產品開發上的一項重點,這將大幅簡化IC設計上例行性且耗時的除錯工作。在搜尋整個深度波形的紀錄時過去尋找個別訊號需要依賴手動捲動來擷取資料,並一一檢視通過的波形串列才能夠完成搜尋動作,既耗時又麻煩。為了超過線性捲動的觀念,更靈敏的波形檢測器概念便因此產生。特別是深度記憶體所必須耗費的搜尋時間將更長,因此更高的取樣紀錄能夠讓工程師在高取樣率的情形下,依然可以擷取到相當多具有時間記號的波形資料。然而太多的資料量將難以尋找隱藏在某處的特定記錄。因此工程師在嘗試為新的設計需求進行除錯時,需要更快速並更正確地找出和某些電路行為相關的紀錄,例如錯誤、暫態或特定資料封包等。若以過去手動的方式來找尋資料樣本時,就好比在網路上搜尋資料,卻沒有搜尋引擎與網頁瀏覽器的協助一般,非常容易出錯且費時。因此發展新的波形檢測器將能夠有效縮短工作時間並帶來更大的便利性。
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