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多層電路板的EMI模擬對策技巧
 

【作者: 高士】   2006年08月07日 星期一

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隨著各種電子產品高性能化與環境問題表面化,印刷電路板產生的放射噪訊(Noise)問題已經無法再逃避漠視,目前EMI(Electro Magnetic Interference)噪訊對策,大多仰賴設計者長年累積的經驗,或是利用模擬分析軟體針對框體結構、電子元件,配合國內外要求條件與規範進行分析。


電磁波分析軟體遲遲無法進入實際應用階段,主要原因是放射噪訊現象要求極高的分析技巧,而且基板模式非常繁瑣複雜,許多未知領域還有待突破,有鑑於此本文針對多層電路基板的共振現象,探討放射噪訊的模擬分析技巧。


一般所謂分析技巧是以「噪訊驅動源」、「結合路徑」與「天線係數」三者相乘的結果表示,有關「噪訊驅動源」首先分析印刷電路基板內的波形信號,依此計算各頻率的噪訊衰減量;有關「天線係數」則先確認模擬分析是否能夠使理論計算式重現,依此應用到實際電路基板。


理論背景

印刷電路板產生的放射噪訊,一般認為所有的放射噪訊起因於信號驅動源亦即LSI元件,它的能量使得某種天線結構因高頻性結合激振,進而發生不必要的電磁放射,也就是說放射噪訊如(圖一)所示,是由噪訊驅動源、結合路徑與天線係數三種要素相乘的結果所構成。


《公式一》
《公式一》

本文以具備金屬面的多層電路基板為例,根據各要因特性利用模擬分析技術探討放射噪訊的發生要因,必需注意的是結合路徑不具備頻率特性,因此此處假設為不作放射噪訊值的計算,同時只作頻率特性分佈等等的相對差檢討。


《圖一 噪訊放射的基本要素》
《圖一 噪訊放射的基本要素》

多層電路基板具有Vcc面與GND面等寬廣的金屬傳導面,金屬傳導面若挾持誘導體相互在平行位置時,就會成為平行平板共振器,並產生電磁性固有定駐波。


如(圖二)(a)單純的模式圖所示,金屬平行板(以下簡稱為平板)附近的電場與磁場的動作特性,可以利用Maxwell方程式求得,被當作境界條件的電場若與平板垂直或與磁場平行的話,就可以導出二次元的定駐波,此時共振頻率可用下式表示:


《公式二》
《公式二》

上述場合的定駐波又稱為模式。由(公式二)可知共振頻率與誘電率以及平板的邊長有依存性(互動關係);圖二(b)是將代入公式二,分別計算模式的共振頻率,根據表一的計算結果顯示隨著基板端緣的共振條件,電場會變成蛇腹狀共振,磁場則變成環節狀共振。


《圖二 (a)平板共振模式(b)平行平板模式的共振頻率與電場磁場的動作特性》
《圖二 (a)平板共振模式(b)平行平板模式的共振頻率與電場磁場的動作特性》

分析方法

接著利用電磁波分析技術,亦即有限差分時間領域法(Finite Difference Time Domain;FDTD)探討上述共振現象。


此處為了求出至為止的連續性頻率特性,因此將Gaussian脈衝當作輸入信號,此外還在超過以上被視為平面波的距離處設置測試點,量測該點的放射電界強度當作放射噪訊的評鑑特性,至於圍繞計算領域的面視為完全吸收境界。


雖然將平板之間的電界已經被當作脈衝輸入,然而基於平面內蛇腹狀共振與環節狀共振彼此相異等考量,因此最後決定選擇(圖三)(a)所示三個位置作為測試點;圖三(b)是模擬分析結果,根據分析結果顯示雖然放射效率隨著脈衝的輸入位置有所不同,不過共振頻率卻完全一致,而且它與利用理論計算式誘導的頻率完全相同,證實平行平板的共振理論與模擬分析可以應用於實際基板成品。


《圖三 長方形模式模擬分析》
《圖三 長方形模式模擬分析》

(圖四)是表面與內部設有電路圖案(Pattern),內層設有GND與電源圖案四層印刷電路板的放射噪訊測試結果,由圖可知有數個頻率超過放射電界強度的評鑑基準線,因此必須抽出基板的GND與Vcc層藉此簡化微細形狀,並製成平行平板的分析模式,這樣作主要原因是的頻率範圍,對放射噪訊模擬分析非常重要,如果將誘電體的比誘電率當做4計算時,它相當於的波長,然而最小波長的1/10亦即是主要目標,依此推論(圖五)的結構對共振應該沒有任何影響。


此外實際上電路基板上的主動元件可能都是噪訊驅動源,因此必需針對數個元件設置位置輸入脈衝進行比較。值得一提的是脈衝的施加分別是GND-Vcc之間與分割的GND之間,其結果如(圖六)所示放射效率會隨著施加脈衝位置出現差異,不過基本上共振頻率卻完全相同,依此證實共振頻率與脈衝施加位置無關,它只對平板的形狀具有依存性。


《圖四 實際基板放射噪訊的實測結果》
《圖四 實際基板放射噪訊的實測結果》
《圖五 實際基板分析》
《圖五 實際基板分析》

《圖六 實際基板模擬分析結果》
《圖六 實際基板模擬分析結果》

接著再以上述基板當作矩形波噪訊驅動源激振計算放射電界強度,此時基板的天線係數使用已經考慮頻率範圍內平均強共振的資料(圖六的點E),(圖七)是放射電界強度計算結果,該圖的縱軸如上所述它是假設結合路徑為1並未計算絕對值,而是與圖四的實測值合成的結果。如果圖四與圖七比較時,可以發現兩者的放射電界強度頻率分佈大致相同,而且模擬分析結果與實測值非常一致。


如圖七所示兩者唯一差異是頻率較高時(以上)模擬分析結果的放射電界強度稍為高一點,主要原因是實際信號驅動源與矩形波的頻率成份比較時,高頻成份相對降低所致。


《圖七 以矩形波激振時的放射噪訊計算值》
《圖七 以矩形波激振時的放射噪訊計算值》

有關噪訊驅動源,一般認為造成驅動平行平板共振的主要原因,是半導體元件LSI電源端子內部流動的電流屬於高頻電流所致。(圖八)是LSI產生的噪訊驅動源動作機制,如圖所示高頻電流在LSI內部產生時脈(Clock)與Bus等信號時,電晶體會出現Switching動作,因此基板導線產生的Common Mode激發電力動作機制適用於LSI,尤其是Switching時「信號導線-GND」與「-信號導線」的電流平衡度的均衡(Balance)性,會導致某種Common Mode電壓產生,它與Normal Mode電壓的關係可以用下式表示:


《公式三》
《公式三》

由於本文是將定數差設為1只進行相對性評鑑,因此Common Mode的激發電力與信號波形相同,依此判斷電流平衡度是造成信號波形的主要原因。


《圖八 LSI產生的噪訊驅動源動作機制》
《圖八 LSI產生的噪訊驅動源動作機制》

有關信號波形分析則使用傳輸線路分析技術,進行實際電路基板的模型分析,接著再根據分析結果以頻率分析方式求出結果。此處考慮到實際電路基板的導線數量相當龐大,導線對放射噪訊的影響比率也不一樣,因此只針對其中部份線數信號進行分析。根據(公式一)可知噪訊驅動源降低的話,放射噪訊強度也會隨著降低,換句話說只要調查各種噪訊對策的頻率範圍改善效果,理論上就可以充分進行放射噪訊對策。


(圖九)是典型的傳輸線路模式實例,由於它是Bus導線因此數個雙向端子呈樹枝狀連接在端緣部位(導線以圓柱表示,它具有特性阻抗與長度等資訊),再以IBIS賦予元件端子電氣特性;EMI濾波器使用傳輸線路模型(Model)常用的等價電路。



《圖九 傳送線路模式實例》
《圖九 傳送線路模式實例》

(圖十)是阻抗(Impedance)時模擬分析波形;(圖十一)是阻抗(Impedance)時模擬分析波形。由圖十可知阻抗時波形相當紛亂,而且還出現Overshoot、Undershoot、非單調性(Non-monotonic)等現象;阻抗的(圖十一)則出現波形站立延遲現象,上述波形紛亂主要原因是信號抵達各端子的時間差與阻抗不一致,導致信號反射影響波形站立時間。


《圖十 模擬分析波形》
《圖十 模擬分析波形》
《圖十一 模擬分析波形》
《圖十一 模擬分析波形》

此處將的Damping阻抗值提高到同時去除EMI濾波器,依此進行傳輸線路分析,(圖十二)是分別利用Fourier轉換獲得的頻率成份;(圖十三)是計算對策前後信號強度獲得的結果。


以此例而言,Damping阻抗依存頻率的特性變化很小,的Damping阻抗值提高到時大約降低左右,頻率對EMI濾波器的依存性比較大,大約降低左右。


根據以上波形模擬分析結果可知,Damping阻抗與EMI濾波器具有左右的降低效果,不過隨著信號與頻率的不同,也有無法判斷效果的可能,主要原因是對策元件造成噪訊抑制效果極易受到導線形狀的影響,此外複雜的信號反射同樣無法獲得噪訊抑制效果,換句話說為了確實掌握對策元件的噪訊抑制效果,利用模擬分析精密計算抑制效果的事前作業非常重要。


《圖十二 對策元件產生的頻率特性》
《圖十二 對策元件產生的頻率特性》
《圖十三 對策元件產生的頻率成份變化量》
《圖十三 對策元件產生的頻率成份變化量》

綜合以上分析結果如下:


  • ‧由GND面與Vcc面構成具備多層平行金屬平板的印刷電路基板,會發生平行平板共振現象,該共振頻率的理論值以及模擬分析與放射噪訊峰值(Peak)相當一致;


  • ‧實際印刷電路基板若去除導線、元件,只作平行平板模型的放射噪訊模擬分析,可以獲得與該電路基板放射噪訊實測值相同的頻率分佈結果;


  • ‧有關噪訊驅動源的模擬分析,只要使用傳輸線路分析法求得的波形信號,就可以用頻率成份預測噪訊,不過預測結果只能當作相對性評鑑資料。



結語

以上針對多層電路基板的共振現象,根據「噪訊驅動源」、「結合路徑」與「天線係數」等概念,探討有關放射噪訊的模擬分析技巧。


延 伸 閱 讀

現今的電子產品都以符合小型化、高性能、高精度、高信賴度、及高反應度等為目標,使得電路元件的分佈密度過高、電路的體積大大的縮小,然而電路變得愈精巧,則會有更多的元件擠在很小的空間當中,增加了干擾的機會,其中以電磁干擾(EMI)及雜訊最令人感到困擾。相關介紹請見「傳導性EMI量測系統的架構及原理」一文。

包括手機、PDA、數位相機等,對於有效和經濟的EMI遮罩設備的需求亦相應增長。在技術和功能大幅提高之下,所要求的遮罩保護技術將會更高。設計人員必須對差動方式發送信號、電源問題、佈局選擇和遮罩方案予以周詳考慮,全力將這些干擾減至最小。你可在「降低EMI干擾技術綜觀」一文中得到進一步的介紹。

本文的重點在於提供讀者一個新的電磁相容測試觀念與流程,期能使花費於電磁相容測試的時間與成本降到最低。 在「電磁干擾(EMI)先期認證測試的觀念與重要性」一文為你做了相關的評析。

市場動態

本文針對3G手機設計討論使用串列匯流排技術連接基頻處理器與LCD和相機時,必須考慮的問題以及技術上的優勢。例如EMI對於設計影響以及LVDS串列鏈路如何解決這些問題。相關介紹請見「用串列匯流排技術減少3G手機的EMI與成本」一文。

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