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LTE傳輸架構
高頻寬的傳輸應用如串流視訊愈來愈多,也因此對無線通訊系統的傳輸率或覆蓋率需求不斷升高。Release 8版的3GPP規格訂定了LTE(Long Term Evolution)標準,朝向4G的系統發展,當中包含了新的運作要求,也就是基地台和手機會透過兩個或更多個發射/接收鏈進行通訊,並充分利用無線傳輸路徑之間的差異性。其做法是先針對發射器到接收器之間的路徑產生一個數學模型,藉以解出最後所需的方程式。
LTE會要求基地台和手機的設計與測試需做一些根本的改變,原因包括:
●需要應付六種不同的通道頻寬(範圍從1.4到20 MHz),以及分頻(FDD)和分時(TDD)雙工兩種模式。
● 需要支援多重天線技術。
LTE定義了五種技術,以提高鏈路的效能,包括:
●行動電話端的接收分集(diversity);
●基地台(eNB - evolved Node B)端的發射分集:運用SFBC空頻區塊碼技術;
●eNB端的MIMO空間多工,給一或兩位使用者使用;
●eNB端的CDD循環延遲分集,搭配空間多工技術使用;
●beamsteering波束定向,依使用者不同而異。
接收器的設計與測試
測試接收器基本子區塊
接收器測試的最大目的是要驗證整個接收器的效能,不過,必須先測試接收器的基本子區塊,並瞭解當中的不確定度。若使用了多組接收器,則在驗證多支天線的效能之前,必須先分別測試每一個接收鏈。這樣的原則同時適用於FDD和TDD存取模式。
《圖一 典型LTE手機的射頻部份簡化區塊圖》
![](/art/2010/01/060948109432/p1.gif) |
新式UE接收器的整合度非常高,單一個元件就能執行多種功能,代表可以插入或觀察信號以利測試的地方可能會變少。
開/閉迴路測試
開迴路測試,也就是待測的接收器不將資訊回饋送回給發射端,足以測試出接收器中個別元件的基本特性,這項測試也是驗證基頻單元之解調演算法的第一步。然而,若要在真實的環境條件中,完整地驗證接收器整體的效能,就需要透過信號會衰減的通道,進行閉迴路(closed loop)測試。在閉迴路測試中,會依據即時的封包確認情形,運用增量冗餘法(incremental redundancy)重送遺失的封包。
同樣地,傳送時使用的調變和編碼方式也是依據即時回饋的資訊。不論是哪一種情況,透過回饋所得到的資訊可用在整個通道頻寬內,針對子頻帶進行最佳化調整,以便進行與頻率選擇相關的排程。
分析ADC輸出
在今日的設計中,通常會透過ADC,將降頻轉換過的IF訊號轉換成數位訊號,再饋入基頻單元中,進行解調和解碼。分析ADC的輸出不是件容易的事,因為該輸出現在已經變成數位的形式。解決方法之一是利用邏輯分析儀,直接擷取數位的資料。儘管大部分邏輯分析儀的應用軟體主要都不是用來產生RF量測所需的參數,但量測廠商可以在一些頻譜分析儀、邏輯分析儀和示波器上執行的向量訊號分析軟體,卻能提供獨特的方式來分析ADC的效能。其做法是直接對數位資料進行傳統的RF量測,讓設計人員可以量化出ADC的效能對系統整體效能的影響。
MIMO量測分析
基地台的接收器也面臨許多相同的MIMO挑戰,但除此之外,還得同時接收多位使用者的資料。從多用戶MIMO(MU-MIMO)的觀點來看,每一個信號都來自於不同的UE,因此,通道是完全獨立的,功率位準有些不同,且時間點也會不一樣。
圖二顯示的是從一個LTE信號的單一個訊框解調出來的訊號,該通道的衰減特性是平坦的(無頻率選擇性的衰減)。從圖的上方所示的兩層MIMO信號可以明顯看出,左邊的星狀圖較緊密,BER會比較低。在一個閉迴路的系統中,如果通道的特性是已知的,亦即UE會將通道狀態的資訊送回給eNB,則可以處理兩層之間的效能不相稱的問題。方法是讓效能較佳的那一層改用較高階的調變格式,或是運用預編碼(precoding)的方式,讓兩層的效能變均等。
《圖二 LTE的MIMO訊號分析示意圖》 ![](/art/2010/01/060948109432/p2.gif) |
發射器的設計與測試
寬窄頻功率量測
如同其它系統一樣,LTE也需要對寬頻和窄頻的功率進行基本的量測。因下鏈和上鏈傳輸訊號具有之特性的關係,LTE的輸出功率量測通常需要一路量測到資源單位(resource element;RE)的層級,也就是在一個次載波上,持續時間為66.7μs的一個OFDMA或SC-FDMA符號碼(symbol)。就這樣的量測而言,必須要使用向量訊號分析儀(VSA),而且與訊號特定部分有關的功率量測,也需要用到VSA的數位解調能力。
發射器在頻帶邊緣的特性量測
控制發射器在頻帶邊緣的特性需要經過審慎的設計,可以犧牲某些頻帶外的衰減特性,但不能影響到通道內的效能,這樣的取捨必須在成本(元件的成本、功率效益、實體的空間等)與通道內和頻帶外的效能最佳化之間,求取最有利的平衡。相鄰通道洩漏功率比(ACLR)和頻譜雜訊波罩(SEM)量測可用來因應通道外發射量的規格要求,如同UMTS一樣,一般會透過內建的常式,使用頻譜或訊號分析儀來執行這些量測。
改良eNB功率放大器
OFDMA訊號的峰均值功率比(PAPR)可能很高,因此,eNB的功率放大器必須具有很高的線性度,才不會產生超出通道範圍的失真乘積。然而,具有高線性度的eNB功率放大器不僅昂貴,且功率效益(power efficiency)也不是很高。有兩種較受好評的方法可用來克服這項挑戰:一是降低波峰因數比(crest factor reduction,CFR),其目的是要限制訊號的峰值,另一種則是預失真補償(predistortion),用意在於調整訊號以匹配放大器的非線性特性。
CFR會在信號的峰值到達放大器之前,加以抑制。未降低波峰因數比的OFDM訊號的RF功率特性與累加性白色高斯雜訊(AWGN)類似,峰值功率的變動量(excursion)會高於平均功率10 dB以上。謹慎使用降低波峰因數比的方法可以大幅降低峰值功率的要求,同時仍能維持可接受的訊號品質。
預失真補償
預失真補償可以讓使用的放大器技術更加節能省電,且成本更低,不過,預失真補償也會增加設計和運作上的複雜度。預失真補償可以讓放大器在非線性區運作的時候,仍能維持通道內的效能。這樣一來,可以將訊號壓縮的情形減到最少,讓通道外的效能在較高的運作位準下,也不會受到影響而降低。目前,有一些類比和數位的預失真方法可以採用,包括從類比式的預失真到前饋式(feed-forward)的方法,以及更節能省電的最新一代基地台所使用的全適應式(full adaptive)數位預失真補償法,它需要可由數位訊號輸入且由RF信號輸出的測試功能。
驗證發射器品質的系統化方法
分析MIMO訊號的基本步驟
分析MIMO訊號必須經過多個步驟,才能確實找出發射器所有問題的根本原因。當需要驗證和優化複雜的數位調變訊號時,工程師往往會想利用向量訊號分析方法,直接進行深入的數位解調量測。然而,依循一定的驗證程序,先從基本的頻譜量測開始,接著進行向量訊號量測(結合頻率和時間),最後再進行數位解調和調變分析,如圖三所示,通常可以達到比較好的成效,有時候也是必要的。
《圖三 分析MIMO訊號的基本步驟示意圖》
![](/art/2010/01/060948109432/p3.gif) |
發射器訊號量測點
發射器的許多量測通常都很簡單,只要將發射器的RF輸出訊號直接連接到RF訊號分析儀的輸入端,然後量測訊號的特性和內容就可以了。不過,有些量測會需要在發射器信號鏈的前端或中段進行連接和探量,圖四就是一個典型的發射器區塊圖,圖中顯示了幾個可能插入訊號或探量訊號的點。
《圖四 發射器訊號區塊示意圖》
![](/art/2010/01/060948109432/p4.gif) |
《圖五 RF頻譜量測示意圖》
![](/art/2010/01/060948109432/p5.gif) |
《圖六 向量訊號量測示意圖(此處顯示的是QPSK、16QAM、64QAM、以及AWGN參考曲線的(l到r)CCDF)》 ![](/art/2010/01/060948109432/p6.gif) |
《圖七 數位解調分析示意圖 》
![](/art/2010/01/060948109432/p7.gif) 軌跡B為進行單一次FFT後的功率vs.頻率量測結果,軌跡D為誤差一覽表,軌跡A為IQ星狀圖,可以看出分析儀已成功鎖定並解調出該信號,軌跡C顯示的是誤差向量的頻譜,軌跡E則為時域的EVM誤差向量值,為符號碼的函數
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就MIMO訊號發射而言,或許可以將每個發射器獨立開來一一量測,但也可能唯一的量測點就在已經耦合起來的預編碼訊號中。決定所要採取的量測方法時,選擇能夠提供最準確結果的測試架構極為重要。下表列出了各種量測需要的分析儀輸入端數目。
《表一 各種量測需要的分析儀輸入端數目示意表》
![](/art/2010/01/060948109432/t1.gif) |
結合模擬與量測來解決硬體測試需求
今日的設計方法都會大力借重系統模擬技術,以避免反覆重新設計硬體所付出的昂貴代價,同時加快整體的設計流程。量測廠商提供的設計工具可以與測試儀器相結合,提供一個混合硬體與模擬的環境,讓工程師得以在系統的實際使用情境中,測試已設計完成之元件和子系統的功能。圖八就是利用模擬工具所設計出的一個完整的發射器和接收器系統,其中的MIMO通道可調整信號的衰減量。
《圖八 模擬環境設計的收發器系統測試示意圖》
![](/art/2010/01/060948109432/p8.gif) |
結合模擬與測試的功能具有許多好處,最好的一個例子是用來產生兩組MIMO發射器訊號源,然後對MIMO系統中已設計完成的兩組接收器和基頻部份進行編碼傳輸的BER量測。發射器的測試資料可以是數位或類比的IQ資料,亦可加上控制和預編碼的機制,再比較接收器輸出的資料與送出的資料,進行即時的錯誤分析。運用已知的訊號衰減和通道耦合情景,對接收器進行壓力測試(stress-testing),在此同時進行即時的BER量測,才有把握所設計出來的產品在真實世界的環境中,可以正確地順利運作。
(作者為安捷倫科技Agilent Technologies電子量測事業群LTE應用工程師)
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