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高速類比至數位轉換器之平台測試
 

【作者: Mark Thoren, Clarence Mayott, Derek Redmayne】   2008年07月31日 星期四

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高速類比至數位轉換器(ADC)是許多通訊和儀器應用的重要部分,相關應用囊括蜂巢式基地台、無線數據基礎設施設備、頻譜分析儀、軟體無線電、醫療診斷設備和RFID讀取器等。這些系統可能相當複雜,其具備低雜訊類比訊號處理和高速數位電路的組合,且經常位於同一板面上。而在類比與數位相遇之處,亦即ADC –則是其關鍵點,其對任一領域之相關問題都是很敏感的。本文將著重於相關測試和應用高速ADC之議題,同時也將提供相關技巧,讓您了解如何系統化地進行應用測試。


先取得參考板

每項應用均具備自身對於動態範圍、頻寬、輸入頻率和取樣率等需求,而其它同等重要的參數,則包含了電源需求及數位介面類型(LVDS、單端CMOS和CMOS訊號輸出電壓位準)。這些要求縮小了對ADC的選擇範圍,而下一個步驟,便是在平台上評估ADC。
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