軟錯（Soft Errors）是半導體元件中的「雜訊脈衝」或資料流失，並不會刻意重複發生。這些隨機發生的雜訊脈衝通常不會衍生嚴重的後果，同時不會損壞元件。造成雜訊脈衝的外在因素超乎研發業者的可控制範圍，其中包括α粒子、繪圖處理器宇宙射線以及熱中子。事實上，許多系統均能容許某種程序的軟錯。例如，若工程師正針對音效、影片或靜態影像系統，設計一組預先壓縮的擷取緩衝區或解壓縮後的播放緩衝區，則相關的錯誤位元（bad bit）可能不易被使用者察覺，並且也不是那麼重要。然而，當記憶體元件被使用於支援各種關鍵任務的應用，負責控制系統運作時，軟錯可能就會產生嚴重的影響，不單只是造成資料的毀損，更可能導致功能與系統的故障。而本文將探討這些軟錯的成因、不同的量測技術以及克服這些軟錯的方法。

軟錯是新問題嗎？

軟錯率（SER）的問題在1970年開始被業界廣泛重視，當時DRAM開始出現許多隨機性錯誤的跡象，被認為是一種記憶體資料問題。隨著製程技術的規格持續縮小，造成故障所需的電荷持續減低，且速度遠超過記憶體單元中的電荷儲存區（collection area）。這意謂著在90奈米這類小尺寸的元件中，軟錯問題愈來愈受到注意與重視，同時須加入更多的步驟才能確保軟錯率降低至可接受的範圍內。
...
...