安立知以機器學習縮短5G UE毫米波 3D EIS掃描測試時程

安立知（Anritu）為其無線通訊綜合測試平台MT8000A推出「使用機器學習的 EIS-CDF 最佳化」MX800010A-026 全新軟體選項，透過機器學習實現最佳化的 5G 毫米波（mmWave）3D EIS掃描（EIS-CDF）測試時間。

圖一 : 安立知推出「使用機器學習的 EIS-CDF 最佳化」MX800010A-026全新軟體選項，透過自動化學習 UE 天線特性並提高測試效率。

隨著北美和日本等發達經濟體正加快推出快速連接 5G mmWave（FR2）服務的步伐，mmWave使用者設備（UE）的研發和一致性測試預計將在未來成為更活絡的市場。

3GPP標準規定在OTA（Over-the-Air）測試環境中以 3D測試 mmWave UE 天線特性。由於3D測試的數量或測量點較多，透過機器學習途徑得以大幅縮短測試時間，並可望最佳化毫米波 UE 的測試效率，進而普及。
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