太克科技(Tektronix)近日宣布其数字相位分析（Digital Phase Analysis，简称DPA）技术获得美国的专利。这是一套创新的、领先业界的抖动分析法，可用于光学通讯网络的测试。当拨打电话时，抖动常会造成消费者无法拨通电话或不良的通话服务质量。在开发今日更为快速与复杂的通讯网络的同时，抖动的管理也就越来越重要。Tektronix的 DPA 技术，已经整合于其光学测试系统（Optical Test System，OTS）产品系列，可以让制造商与网络供货商达到并执行所需的测试要求，以处理日益扩张的全球通讯基础结构。

Tektronix光学事业部副总裁Rick King表示：「透过DPA，Tektronix 就可让光学网络与组件设计工程师与制造商，能够在现今建构的最快速、最复杂的全球网络架构系统和组件上，进行抖动测试。这套全数字化的解决方案，可以让我们的客户更容易地以最前线、最创新的姿态，开发其产品与服务。」

Tektronix的 DPA 技术提供的抖动分析，对设备制造商而言非常重要，因为此分析方法以领先业界的正确性、分辨率与可重复性，提供可靠的抖动测试结果。DPA在SONET/SDH 数据串的每个边缘加上时间注记，并移除错误来源及现有模拟电路中所找到的锁相环路（PLL）相关参数。今日，抖动测试对于较高数据率的测试极为重要，因为每个位距离更加地接近。国际电讯联盟（ITU）已经开发全球标准，用以确保可信度与互操作性。遵循国际抖动标准，对于确保全球通讯网络上的数据传输与接收无误，是非常重要的。

DPA 技术亦采用IBM所开发的锗化硅（Silicon Germanium，SiGe）技术。SiGe半导体能够以较低的成本，在标准硅晶上提供高效能与低消耗功率的表现，有助于开辟新一代的应用与计算机装置。Tektronix是第一家将此尖端技术，整合于TDS7000系列数字荧光示波器（Digital Phosphor Oscilloscope）入门机型的测试与量测公司。