半导体测试厂商爱德万测试(Advantest)的测试机台—T5851日前于8月9日至11日在美国加州圣克拉拉举行的第11届年度快闪记忆体高峰会（Flash Memory Summit；FMS） ，勇夺快闪记忆体与固态储存产业最高荣誉的「最佳参展项目奖」（Best of Show Award）。

爱德万测试T5851测试机台获快闪记忆体高峰会颁最佳参展项目奖

爱德万测试T5851系统在快闪记忆体高峰会「最创新快闪记忆体技术」（Most Innovative Flash Memory Technology）评鉴类别深获肯定，为半导体测试带来革命性的突破，有助业者借由快闪记忆体测试，进一步提升电子产品的效能、可用度、耐用度甚至能源效率。 T5851系统提供单一多协定工具，针对高效能通用快闪储存（UFS）装置与PCIe BGA固态硬碟（Solid-State Drive；SSD）做测试，大幅降低客户的资本投资与部署风险。此外，T5851采用 Tester-per-DUT架构与专利硬体加速器，缩短测试时间，进而减少测试成本。

T5851专为NAND装置的大量测试、可靠性测试与品质测试而设计，且系统具弹性，若搭配自动元件分类机如爱德万测试M6242系统，则最高可平行测试768个装置。

爱德万测试执行董事山田弘益表示：「爱德万测试为非挥发性记忆体市场带来的创新突破，对于低功率的行动应用至为关键，而我们的努力能受到业界肯定肯定，敝公司深感荣幸。T5851系统在设计上瞄准了这类装置在系统级测试上的需求，同时又能兼顾市场对于可靠性、成本控制和大量生产的期待。」

快闪记忆体高峰会大奖计画主席Jay Kramer表示：「新兴消费性电子产品采用快闪储存技术已成趋势，市场快速拓展，而业界能否提供可扩张的快闪记忆体测试平台将成为一大挑战。我们很荣幸地将『最佳参展项目技术创新奖』（Best of Show Technology Innovation Award）颁发给爱德万测试T5851系统，该系统适用于广泛的测试方案环境，无论是生产模型还是工程模型皆可应用；而其多元性也获得肯定，举凡智慧型手机、平板电脑、超轻薄可携式笔电的记忆体IC皆可测试。 」