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绿色电子产品管制物质因应对策研讨会 7/28登场
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2006年07月04日 星期二

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零组件科技论坛将于今年7月28日假台北富邦国际会议中心举办《绿色电子产品管制物质因应对策》研讨会。欧盟对电子产品的两项绿色指令WEEE与RoHS已于去年及今年中陆续启动,这两项指令的施行对我国近3.5万家厂商,以及每年输往欧洲高达新台币2,446亿元以上的电机电子产品将造成重大冲击。今后我国厂商的产品若不能符合这两项指令,将无法输出至欧盟;而为了突破管制物质替代材料/制程的技术问题,更面临技术开发上的窘境。

为协助电子产业因应这波来势汹汹的冲击,零组件科技论坛将自今年7月起开办一系列的绿色电子系列研讨会,邀请专家来探讨解决之道。此系列是由零组件杂志主办,共襄盛举的协办单位包括社团法人台湾环境管理协会、UL、B2BIC、宜特科技、融易网络,这些单位分别专精于绿色电子的管理、分析检验、制程技术等领域,阵容极为坚强。

由于电子设备成品的组成复杂,管制物质的更动对整个产业可说是牵一发而动全身,需要从材料、组件、半成品组装,一直到设备端都做好成份上的控管。7月28日率先于台北登场的第一场研讨会,主题正是《绿色电子产品管制物质因应对策》,将以RoHS指令管制物质的因应对策为讨论重点,分别针对法规面、替代方案发展现况、化学分析作法,以及产品可靠性等关键性议题一一进行剖析。

在「绿色电子产品管制物质之冲击与因应」的课程中,将邀请UL台湾分公司限用物质管制计划协理郑雅伦博士分别探讨:RoHS及国际设备大厂绿色采购计计划之管制物质作法与影响冲击;RoHS重要及最新规范剖析;厂商之因应要领;其他规范,如中国RoHS指令「电子讯息产品污染控制管理办法」剖析。

在「RoHS管制物质之替代方案发展现况综观」的课程中,将邀请工研院材料所周淑金博士分别探讨:RoHS管制物质之可行替代方案剖析;无铅替代方案探讨;其他物质替代方案(铬、镉等);替代方案的应用瓶颈、限制及因应。

在「有害化学物质分析测定方法」的课程中,将邀请德国莱因化学实验室负责人章启鹏博士来介绍:RoHS检测方法规范(IEC 62321);筛选及检测流程与样品拆解;分析装置与分析测定方法简介(荧光X光、ICP-AES/MS等);不同试验材料材质对受测有害物质分析工作的影响差异及修正。

在「RoHS指令等环境规范对产品可靠度之冲击剖析」的课程中,则邀请宜特科技可靠度工程处处长崔革文来探讨:新材料、组件、模块之可靠度评估;组件等级环境与可靠度验证;电路板/系统等级环境与可靠度验证;故障及良品剖析。

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