安捷伦科技和SILICON WAVE于六月四日在美国加州帕拉奥图和圣地亚哥市共同宣布，具备射频参数测试能力的安捷伦93000 SOC系列半导体测试系统，将用于新一代蓝芽集成电路的开发和制造测试。93000系列的单机升级能力(single scalibility)，不仅能够满足SILICON WAVE集成电路设计验证和性能测试所必需的技术性能，同时能够帮助用户降低集成电路制造过程中所需的费用。

「随着无线通信技术市场需求的不断增加，对SILICON WAVE而言，能够迅速提供客户高质量，低价格的器件至关重要。」SILICON WAVE公司半导体产品部副总裁Riaz Chaudhry先生表示，「利用安捷伦测试系统，让我们在蓝芽方案中不断取得了胜利，这也坚定了我们进一步采用93000测试系统的信心。」

安捷伦93000系列可提供完整的系统单芯片(SOC)测试能力。藉由同时测试四组待测物(quad-site)测试能力，以及单机升级平台所提供最低测试成本，可以帮助用户降低设备投资总额。随着其射频能力的提升，最新的93000系统可提供包括达8GHz信号测试，3GHz可调变输入源(modulated stimulus)，12组射频埠，同时多频输入源(multi-tone stimulus)，跳频(frequency hopping)和误码率检测(bit error rate,BER)等能力。