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制造力转为标准力!台湾首次催生4项FPD标准
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2010年06月10日 星期四

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国际半导体设备材料产业协会(SEMI),于今日(6/10)与友达光电及工研院共同宣布,成功提案通过4项SEMI平面显示器国际产业技术标准,包括3D显示器名词定义、明室对比量测方法、云纹量化标准,以及色彩分离现象名词定义。这也是台湾首次突破国籍的限制,正式在国际产业技术标准上取得成果,显示台湾在显示器产业上的技术实力已获肯定。

左至右:TDMDA执行长刘佳明、工研院量测中心副主任林增耀、电光所所长詹益仁、友达光电技术长罗方祯、SEMI台湾暨东南亚区总裁曹世纶 BigPic:500x391
左至右:TDMDA执行长刘佳明、工研院量测中心副主任林增耀、电光所所长詹益仁、友达光电技术长罗方祯、SEMI台湾暨东南亚区总裁曹世纶 BigPic:500x391

过去台湾受制于非联合国会员的因素,因此在IEC、ISO等国际产业标准制定上备受阻扰,不但无法正式参与标准制定组织,且日韩也透过标准的制定,企图限制台湾平面显示器产业的发展,让台湾在研发与制造上都衍生额外的生产成本。而此次SEMI分别和工研院量测中心及工研院电光所合作,整合友达、新奇美和中映等主要厂商,在「SEMI台湾FPD技术标准委员会」下成立工作小组,邀请产官学研专家共同研议并提出新标准草案,进行国际表决,在短短一年内,就通过3项画质检测标准和1项3D显示相关标准。

本次通过的4项标准包括:

编号 标准 说明
SEMI D56-0310 明室对比(ACR)量测方法 定义显示器在有环境光的影响下对比量测方法,此方法能更忠实呈现显示器在真实环境内之影像表现。
SEMI D57-0310 云纹(Mura)量化标准 此标准透过人因实验分析出人眼观看Mura之视觉方程序,透过此方程序能算出不同状况下Mura的量化数据,解决长久以来Mura 不易量化之困扰。
SEMI D58-0310 画质检测时Color breakup现象之名词定义 确认各公司对使用术语的共识并完成定义,减少沟通上之不必要误解。
SEMI D59-0710 3D 显示器之名词定义 确认各公司对使用术语的共识并完成定义,减少沟通上之不必要误解,以利相关技术的发展。

SEMI台湾暨东南亚区总裁曹世纶表示,国际产业技术标准对产业技术和成本降低十分重要。而SEMI将国际标准制订的运作模式引进台湾,就是希望能够协助台湾半导体、平面显示器、太阳能和LED等高科技产业突破瓶颈,顺利在国际间发声并拿回技术主导权。

友达光电技术长罗方祯表示,显示器产业技术标准制定后,就能够减少争议,避免退货的机会,因此能够减少成本支出。且厂商从研发到制造端也都能有遵循的依归,对于企业发展有举足轻重的影响。而此次台湾能够在国际标准制定上取得成果,将有助于台湾自有的产品优势显示出来,避免受制于日韩的包围。以此次的「明室对比(ACR)量测方法」为例,就能够表现TFT-LCD的优点,让台湾产品更具竞争力。

TDMDA执行长刘佳明也表示,产业有一致的标准,就不必重复进行量测,所减少的时间成本非常可观。

工研院量测中心副主任林增耀则以「突破、壮大、巩固」6字,来诠释台湾在平面显示器产业标准制定的过程。他表示,台湾在2年前是突破期,那时受到日本诸多阻扰和质疑,故转寻求美国的协助,而美国对于台湾的制造能力非常信任,因此也促成了现在成功的通过标准提案。这也是台湾从制造能力转变为标准能力的印证。目前台湾已进入了巩固期,未来将为持续提出更多的显示器产业标准,加重台湾在国际的影响力。

關鍵字: 3D显示  SEMI  工研院  友达光电  劉佳明  林增耀  詹益仁  罗方祯  曹世纶 
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