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R&S将与Intel共同举办物联网测试技术论坛
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2016年05月30日 星期一

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罗德史瓦兹(Rohde & Schwarz, R&S)与技术伙伴Intel 将于6月13日在德国慕尼黑举办物联网测试技术论坛(IoT Test Day),会中邀请多位物联网领域专家为您介绍最新的物联网技术趋势,以及随之而来大量的相关测试需求。

罗德史瓦兹将与Intel共同举办物联网测试技术论坛
罗德史瓦兹将与Intel共同举办物联网测试技术论坛

未来将有数十亿的装置透过无线连接方式和物联网串连。随着物联网产业蓬勃发展,新的通讯技术也正快速导入,以因应物联网多样化应用的种种特殊需求;这种低成本的连接方式也符合优化物联网测试解决方案中对于高安全性、可靠性和全方位实用性的相关要求。

论坛中将提供物联网模组、设备和应用程式开发人员一个绝佳的机会,针对技术发展趋势、测试挑战和解决方案等议题进行交流。 R&S将从物联网无线设备和应用程式实际测试的角度来回答开发人员们最想了解的问题。同时,物联网专家们也将实际操作R&S仪器进行各种相关测试。

更多訊息及報名資訊,請瀏覽:www.rohde-schwarz.com/iot-test-day (更多讯息及报名资讯,请浏览:www.rohde-schwarz.com/iot-test-day)

關鍵字: 物联网测试  技術論壇  羅德史瓦茲  R&S  Intel  測試系統與研發工具  无线通信测试 
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