虚拟仪控厂商National Instruments(NI)宣布，宗臣科技采用NI开放式的虚拟仪控架构，使用NI的 LabVIEW图控式程序语言，搭配NI的PXI工业级量测平台及NI的RF模块仪器，成功开发RFID射频讯号检测(Radio Frequency Identification)测试系统，适合高速产线，亦可针对不同产业的RFID量测需求，提供客制化测试系统服务。

宗臣科技发表的RFID测试系统，最大的研发在于它具备「产线整合能力」，不但能和企业现有产线流程紧密结合；LabVIEW软件更提供客制化进行数据库存取，Word或Excel报表产生，远程监控，或和其他软件搭配之系统整合，因此，可针对不同产业的RFID量测需求，提供客制化测试系统之服务。

郭宗廷表示：「NI的PXI及LabVIEW产品在此RFID量测系统中扮演了相当重要的角色，不但提供了高弹性、高效能与合理价格，此外，NI售后服务及技术人员支持的专业及热诚更是我们选择NI的重要因素。」

此RFID量测系统，为一完整从物理层测到协议层，并可进行多样化测试之量测方案；除了在研发端可提供详细之量测数据以供产品验测，亦可在产线端进行集成产品测试。宗臣科技使用NI的PXI-8196 2.0GHz Pentium M控制器，搭配PXI-5660向量讯号分析仪及PXI-5671向量讯号产生器来进行讯号的分析及产生。