罗德史瓦兹(R&S)最新ZNB高性能网络分析仪所提供的极大动态范围、高精度、高速及便捷之操作接口，利用SET2DIL（单端转差分之插入损耗）算法验证印刷电路板（PCB）传输高速差分讯号质量的最佳工具，R&S 网络分析仪ZNB之时域量测功能，结合IPC-TM-650验证的SET2DIL技术，可直接处理时域反射讯号（TDR）与时域传输讯号（TDT），并计算插入损耗。

介质与导体的损耗所导致的讯号衰减与失真是高速讯号传输线仿真与设计的重点，在高达数十GHz时的插入损耗必须被正确地建模，并藉由量测进行验证，以确保仿真的正确性。

最新的SET2DIL算法是一种将两埠时域量测结果转换成四埠频域参数SDD21的方法，这样的方法只需要使用双埠网络分析仪在单一测试点进行单端时域反射与传输量测，搭配R&S ZNB网络分析仪，将可取代目前需要量测两个测试点的四埠量测，符合实验室测试环境的需求，这样的技术更便于直接量测SDD21，增加多数的用户在大量量产的接受度。

R&S ZNB网络分析仪提供大面积的触控面板，用户可以在三个步骤内选取任何功能，宽大的屏幕并提供充足的空间显示测试结果，以很轻松、直觉的方式新增任意的量测。