由于市场比以往更投入高速光通讯和数据通讯的开发，以因应像智能型手机、平板计算机和视讯应用等需大量带宽测试的不断快速需求。资通研究人员和设计人员也同样需要高速测试设备，分析和测试光学和串行接口的特性，通常他们采用每信道10到32 Gb/s数据速率的多信道仪器。

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Tektronix 日前宣布，一系列新的高速码型产生器和误码检测器，可支持高达32 Gb/s的光通讯和串行数据通讯测试。PPG3000系列码型产生器和PED3000系列误码检测器具有多信道码型产生与用户自定码型编程功能，适用于类似100 G以太网络这类的特定标准，多达4信道进行特殊的讯号质量范围测试(Margin Test)。

对测试相干性光调变格式 (如DP-QPSK)，PPG3000系列可以其4相位对齐的信道搭配Tektronix OM4000系列光波相干性讯号分析仪使用，使光学设计人员实时优化和验证相干性调变格式。

对误码率测试，PED3000系列可结合PPG3000功能，提供高达32 GB/s误码率分析与多信道支持，以便快速识别常见的多信道数据通讯架构的串音问题。例如，IEEE802.3ba标准测试，设计人员可以仿真4×28 G测试平台，为他们的接收器设计进行压力测试。32 Gb/s的数据率输出与抖动调整插入能力，使设计公司拥有业界最好的边际功能、更高的产量和最佳的终端产品或芯片效能，顺利将其产品推向市场。