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創意電子採用益華電腦解決方案成功地實現了20奈米SoC測試晶片試產
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2013年07月22日 星期一

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全球電子設計創新領導廠商益華電腦(Cadence Design Systems)宣布,設計服務公司創意電子(Global Unichip Corporation,GUC)運用Cadence Encounter 數位設計實現系統(Digital Implementation System,EDI)與Cadence Litho Physical Analyzer,成功地完成了20nm系統晶片(SoC)測試晶片的試產。兩家公司的工程師們密切合作,運用Cadence解決方案克服了設計實現與DFM驗證的設計挑戰。

在開發期間,GUC創意電子運用Cadence Encounter解決方案支援20nm佈局與繞線流程中所有錯綜複雜的步驟,包括雙重曝光元件庫準備、佈局、時脈樹合成、保持固定(hold fixing)、繞線與繞線後最佳化。GUC 創意電子也運用Cadence Litho Physical Analyzer進行DFM驗證,將20nm製程變異的不確定性轉變成為可預測的影響,幫助縮短設計時程。

「我們選擇Cadence益華電腦作為開發夥伴,因為他們在先進製程的成功已經獲得大家公認。」GUC創意電子設計技術開發處處長曾智謀表示:「這個20nm SoC測試晶片在台積公司製程上試產成功,就是我們密切合作以及Cadence Encounter與DFM解決方案絕佳功能的直接成果。」

「隨著客戶紛紛移向20nm,他們面對著新的挑戰,例如雙重曝光與製程變異,大幅提高了風險。」Cadence益華電腦晶片實現事業群研發資深副總裁徐季平表示:「Cadence益華電腦以我們的設計實現和DFM驗證工具克服了這些先進製程挑戰。我們與夥伴們密切合作,驗證這些新製程以降低風險,並且讓客戶能夠滿懷信心地輕鬆轉移到20nm製程。」

關鍵字: SoC測試晶片試產  益華電腦(Cadence
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