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Tektronix推出TLA7PG2可程序测试码产生器模块
TLA7PG2 Pattern Generator可扩增TLA 700逻辑分析仪新高效能

【CTIMES/SmartAuto 周亞婕报导】   2000年02月08日 星期二

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太克科技(Tektronix)发表最新TLA7PG2可程序测试码产生器模块(Programmable Pattern Generator Module),用来搭配TLA 700系列逻辑分析仪。TLA7PG2是具有循序控制的多信道可程序化pattern generator模块,可直接插入TLA 700,能够产生数字激励以仿真硬件设计和软件程序测试上较少遇到的测试条件;TLA7PG2会利用仿真器的数据来激励原型,进行更广泛的分析。如果设计工程师需要整合的pattern generation解决方案,也可以透过TLA7PG2存取TLA 700的撷取科技。

全新TLA7PG2 Pattern Generator可进行系统硬件设计的功能验证、侦错及压力测试
全新TLA7PG2 Pattern Generator可进行系统硬件设计的功能验证、侦错及压力测试

TLA7PG2利用更大的信道数、更高的数据输出率及更深的pattern内存,提供更多的用途。

Tektronix同时还推出TLA7XM扩充主机,这款扩充主机对于可同时监测总线的数目是一大突破。设计师只要使用TLA7XM主机配合TLA7PG2,便能同时使用1024个激励信道或2000个以上的撷取信道。

Tektronix数字系统事业部副总裁Craig Overhage表示:「TLA7PG2配合TLA7XM扩充主机与TLA700系列,提供复杂数字应用侦错的强大激励与撷取功能。TLA700系列在加入这些新产品之后,将为多处理器的设计提供最大的弹性与架构能力。」

Pattern Generation实现整合逻辑分析解决方案

设计系统硬件的电子设计工程师依赖逻辑分析仪在侦错处理程序时及早测试及评估子系统效能与功能,使用理想或错误的digital patterns激励电子设计进行功能验证、侦错及压力测试时,pattern generator是必要的工具;如果在设计系统时缺少提供数据讯号给受测装置的周边电路板、IC或总线,TLAPG2是一项很理想的pattern generation解决方案。有了TLA7PG2,设计工程师就可以将电路设定在所要的状态,以全速工作,或者利用分解的单一步骤测试一连串的状态。

每个TLA7PG2模块总共有64个信道,而且支持268 MHz的频率率数据输出,利用每秒以最高效能快速地测试设计。TLA7PG2采用Windows用户接口操作与TLA 700系列进行沟通,接口的外观和感觉与TLA逻辑分析仪旗舰系列完全一样。

關鍵字: 可程序测试码产生器模块  逻辑分析仪  太克科技  通用设备 
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