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【CTIMES/SmartAuto 林佳穎报导】   2010年08月30日 星期一

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宜特科技宣布,目前已引进高温/高电场诱发闸极漏电实验,是台湾首家引进此服务项目之独立实验室。此项目为国际汽车电子协会针对IC可靠度必测项目。

在实务中,无铅制程温度即比锡铅制程温度高30℃~40℃,此为高温环境。而为了满足无铅高温组装需要,SMT机台厂商亦以增加机台热区以及加大电热能来因应,使得电场环境较以往严苛,因此高温加上高电场而诱发了集成电路闸极漏电现象逐渐增加。

近几年随着IC制程演进,复杂度不断上升,加上大多数IC设计公司为了扩大应用领域及降低成本不断进行Die Shrink,此举亦使得闸极漏电现象发生机率增加。部分研究显示闸极漏电现象发生在高压组件上较多;车用电子在高压/高温环境下闸极漏电现象之比例更高,因此国际汽车电子协会将此实验纳入IC可靠度必测项目之ㄧ。宜特科技除已具备多年IC可靠度经验外,亦于今年自行开发完成电场/高温诱发闸极漏电实验能力建置,同时也已提供国内/外客户试验需求。

關鍵字: IC验证  宜特科技 
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