美商国家仪器（NI）于日前宣布，已再度扩充其PXI平台的功能，以新款Per-pin Parametric Measurement Unit (PPMU) 与电源量测单位模块，用于半导体特性描述与生产测试。NI的 PXIe-6556 - 200 MHz高速数字I/O具备PPMU；NI PXIe-4140与NI PXIe-4141 - 4信道SMU可降低设备成本、缩短测试时间，并提生混合式讯号的弹性，可测试多款装置。

NI表示，PXIe-6556高速数字I/O模块，可达最高200 MHz而产生/撷取数字波形；或于同一针脚上，以 1% 误差之内执行DC参数量测，可简化接线作业、减少测试次数，并提高测试器密度。此外，其内建的时序校准功能可自动调整时序，可降低不同连接线与线路长度所造成的时序歪曲，亦可降至最低。NI PXIe-6556亦可选择是否以其他NI SMU切换，以达更高精确度。工程师可根据硬件或软件触发器，进而触发参数量测作业。

该公司并进一步表示，PXIe-4140/41 SMU模块可于各PXI Express插槽，提供最多4个SMU信道；而4U机架高度的单一PXI机箱可达最多68个SMU信道，以轻松测试高针脚数的装置。透过1秒可达最多600,000样本的取样率，工程师可大幅减少量测次数，或撷取重要的瞬时特性参数。此外，NI PXIe-4141具备新一代的 SourceAdapt技术，让工程师可根据任何已知负载而微调SMU输出，达到最高稳定度与最短瞬时期间。