美商国家仪器提供了最佳的解决方案，协助工程师和科学家克服世界上最艰巨的工程挑战，并于今天推出 NI 半导体测试系统 (Semiconductor Test System，简称 STS) 系列。基于 PXI 架构的自动化测试系统，针对半导体生产测试环境的 PXI 模块，有助于降低 RF 和混合式讯号装置的测试成本。相较于传统的半导体自动化测试设备 (ATE)，STS 先期用户都证实了 STS 有助于降低生产成本、提高产能，而且还可以透过相同的硬件和软件工具，同时执行特性测试与生产作业。这样一来即可更快建立数据关联并缩短上市时间。

「由于集成电路越变越复杂，所以可针对设计检验甚至是末期生产测试等应用提供最佳测试范围、同时兼具成本效益的 ATE 也变得越来越重要」，Infineon Technologies 车体传动产品的资深设计与应用工程师 Dr. Hans-Peter Kreuter 解释：「就混合式讯号测试而言，PXI 架构的 STS 效能远胜过传统的 ATE，能够以相当低的成本提供最理想的测试范围。」

不同于传统 ATE 的封闭式架构，STS 具有开放式的模块化架构，可协助工程师运用先进的 PXI 仪器。这对 RF 和混合式讯号测试而言尤其重要，因为传统 ATE 的测试范围通常无法满足最新半导体技术的需求。STS 搭载 TestStand 测试管理软件和 LabVIEW 系统设计软件，针对半导体生产环境提供了丰富的功能组合，包含可客制化的操作接口、分类机/针测机整合、装置为主的程序设计和针脚-信道配置、标准测试数据格式报表制作、整合式多地点支持等等。有了这些功能，工程师即可迅速开发测试程序、加以除错并完成布署，缩短整体的上市时间。此外 STS 还配备了全封闭式的「零占用空间」测试头、标准衔接与链接机构，可立即整合至半导体生产测试单元。

「由于测试系统不停汰换，或者无法满足新的测试需求，因此传统的 ATE 系统往往伴随着高额的测试工具替换成本，不过 STS 的开放式 PXI 架构却可以让我们保有原本的投资，并且以此为基础持续扩充，不必淘汰任何设备」，Integrated Device Technology (IDT) 测试总监 Glen Peer 指出：「此外还有出色的弹性，有助于重新设定测试平台并加以扩充，以便因应不断成长的效能需求。」

STS 系列提供三种不同的机型：T1、T2、T4，分别容纳了 1、2、4 个 PXI 机箱。这些尺寸选项，再加上所有 STS 机型通用的软件、仪控和互连机构，可协助工程师充分满足不同的针脚和地点数量需求。此外，便于扩充的 STS 还可以布署至特性测试甚至是生产环境，藉此优化成本效益、大幅简化建立数据关联的程序，进而缩短上市时间。

为了协助客户顺利达成目标，NI 提供丰富的教育训练、产品与服务，同时还有全球 NI 工程专家和 NI 联盟伙伴的强力支持。