帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
JESD204B FPGA偵錯軟體加快高速設計速度
免費內建二維統計眼圖掃描軟體支援高速資料轉換器至FPGA信號完整性的快速系統內驗證。

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2013年10月18日 星期五

瀏覽人次:【2152】

美商亞德諾公司,發佈了一款基於FPGA的參考設計及配套軟體和HDL原始碼,該參考設計可降低整合JESD204B相容轉換器的高速系統的設計風險。該軟體?JESD204B Xilinx收發器偵錯工具,可支援312.5Mbps至12.5Gbps的JESD204B資料轉換器至FPGA串列資料介面和Xilinx (賽靈思)公司 7系列FPGA及Zynq-7000完全可編程SoC。它隨ADI轉換器免費提供,透過提供內建二維統計眼圖掃描,幫助雷達陣列、軟體定義無線電以及其他高速系統的設計人員,更快地驗證採用千兆收發器的JESD204B資料轉換器至FPGA設計的信號完整性。

JESD204B FPGA偵錯軟體加快高速設計速度
JESD204B FPGA偵錯軟體加快高速設計速度

Xilinx高速I/O產品經理Revathi Narayanan表示:“ADI的JESD204B Xilinx收發器偵錯工具提供了內建眼圖掃描功能,能以統計方法確定FPGA內部信號的完整性,有效強化量測流程。其他技術均針對FPGA封裝的外部,並在Xilinx自動增益控制和等化器模組處理之前採集信號,而ADI則利用Xilinx收發器內建眼圖掃描功能,使開發人員可以監控FPGA內部JESD204B鏈路上的信號完整性和設計裕量,從而獲得更加準確的結果。”

ADI的參考設計直接從7系列IBERT核心中內建的接收器裕量分析功能收集資料,並在FPGA或者ARM雙核Cortex-A9 MPCore處理器之一的內部管理本地資料,在HDMI顯示器上顯示資料,或者經由乙太網路將資料送至遠端監控站。通常,其他掃描工具在晶片外部測量信號,需要使用昂貴的量測設備,或者需要透過JTAG傳回資料,以便在實驗室的主機/開發電腦上查看。

“即時”資料蒐集功能可監控設備健康狀態

替代型掃描工具一般透過生成?隨機位流(PRBS)的方式來測量高速資料連結,而系統會在封閉開發環境中校驗該?隨機位流的位級正確性。這種方式並不描述設計的實際表現,也不說明設計是否可能瀕臨失敗。ADI的參考設計使用流向FPGA的真實JESD204B串列資料來測量鏈路的穩健性。通過這種利用“即時”資料的方式,即使已在現場部署設計之後,也可監控信號的保真度,從而在產品的壽命周期內進行即時、預見性維護。

關鍵字: ADI(美商亞德諾
相關產品
貿澤與ADI合作全新電子書探索電子設計電源效率與耐用性
ADI推出超低雜訊雙輸出DC/DC μModule穩壓器
ADI O-RU參考設計平台 助力設計人員縮短產品上市時間
ADI推出全新精密中等頻寬訊號鏈平台 可連接多類型感測器
ADI推出長距離單對乙太網路解決方案 實現建築和工廠自動化
  相關新聞
» MIPS:RISC-V架構具備開放性與靈活性 滿足汽車ADAS運算高度需求
» 應材於新加坡舉行節能運算高峰會 推廣先進封裝創新合作模式
» 生成式AI海嘯來襲 企業更需要AI雲端服務來實現創新與發展
» 研究:Android品牌多元化布局高階市場 本地化策略與技術創新將引領潮流
» AI走進田間 加拿大團隊開發新技術提升農食產業永續發展
  相關文章
» SiC MOSFET:意法半導體克服產業挑戰的顛覆性技術
» 意法半導體的邊緣AI永續發展策略:超越MEMS迎接真正挑戰
» 光通訊成長態勢明確 訊號完整性一測定江山
» 分眾顯示與其控制技術
» 新一代Microchip MCU韌體開發套件 : MCC Melody簡介

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.13.58.61.197
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw