帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
DEK與專家合作以提升SMT組裝的製程水準
 

【CTIMES/SmartAuto 賴孟伶報導】   2006年11月14日 星期二

瀏覽人次:【2482】

DEK公司強化了該公司與業界的視覺技術專家之合作,並在最近完成了一項錫膏檢查開發計畫。

這項合作計畫把DEK錫膏印刷機的事件資料(event data)與錫膏檢查系統的印刷後檢查及SPC報告相整合。將這些不同角度的製程資料規格互相結合後,可以讓設備使用者即時查明與錫膏有關的印刷問題,並且將關鍵性的印刷參數最佳化,以提升製程的可靠度和運作效率。

藉由與Orbotech、CyberOptics和Koh Young等錫膏檢查廠商之合作,DEK已計畫執行進一步的部署,以便對技術和製程進行改善,來提升長期印刷品質控制的量測精度。

透過這些努力,DEK的機器視覺合作計畫將持續為SMT組裝設備的終端使用者提昇附加價值。在這項最新的計畫中,DEK為操作者提供了更好的可見度,協助設備使用者可以更方便地即時解讀數據、更迅速地作出決策,從而保持或增進整體製程的一致性。

關鍵字: DEK  其他儀器設備 
相關產品
DEK全新RTC快速輸送軌道技術 可縮短印刷工時
DEK推出自動化CAD平臺
DEK全新Horizon APi機器問世
DEK全新工具 實現25μm晶圓背面塗層製程
DEK於Nepcon South China展示其新型機種
  相關新聞
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
» DEKRA德凱斥資10億新建總部與實驗室 提供一站式測試檢驗服務
» 是德科技再生電源系統解決方案新成員 支援電動車和再生能源系統
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.144.15.205
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw