先進低頻雜訊分析儀與WaferPro Express的整合，可實現統包式雜訊量測解決方案，並提供直流特性、電容和RF S參數量測功能。

新的先進低頻雜訊分析儀可對整個晶圓執行獨特的元件雜訊量測與建模，軟體模組可量測直流特性、1/f雜訊、 隨機電報雜訊，並進行資料分析。

是德科技（Keysight）日前發表最新版的高效能先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）軟體，以協助工程師執行快速、準確、可重複的低頻雜訊量測。新版軟體包含新的操作介面，並且與Keysight WaferPro Express軟體緊密結合。WaferPro Express平台可針對半導體元件自動執行晶圓級量測。該平台是這個大框架的一部分，讓工程師能深入了解元件和電路中的雜訊，而不僅是在獨立系統進行單向雜訊量測。

現今的半導體工程師無不希望擁有一套靈活、可擴充的雜訊量測系統，以便進行元件特性分析。他們尤其需要一套整合了先進的低頻元件雜訊量測與分析及晶圓級量測的強大平台，讓他們能加速處理所有的晶圓級特性分析任務。Keysight A-LFNA與WaferPro Express軟體的完美組合，可全面滿足他們的需求。

這套整合式解決方案簡化了封裝和晶圓級的個別元件和積體電路的雜訊量測。如同以往，工程師可使用Keysight WaferPro Express軟體，將高速直流、電容和RF S參數的量測進行程控與排序，同時還可自動執行晶圓探測控制。有了新推出的雜訊量測模組，現在他們可在測試套件中新增雜訊量測和分析功能。

Keysight A-LFNA內建的量測程式提供統包的直流和雜訊測量。舉例而言，如需量測N型MOSFET的雜訊，測試系統可自動選擇信號源，並載入可完整揭露元件本質雜訊的阻抗。工程師可接受這些建議設定，亦或進行修改，然後開始量測雜訊。

接著Keysight A-LFNA便開始量測雜訊功率頻譜密度（1/f雜訊）和時域（RTN）內的雜訊。它還可透過多圖資料顯示視窗將量測所得的資料繪製成圖。各種不同的監視標籤可加速處理一般任務，例如：評估元件的直流操作點，並且量測功率頻譜密度曲線的斜率。藉由使用Keysight Model Builder Program（MBP）及IC-CAP等元件建模工具，工程師可分析雜訊資料並且呈現在元件模型中。電路設計人員可使用這些元件模型來確保極度準確的射頻和類比低雜訊電路設計。

台灣是德科技總經理張志銘表示：「我們的元件特性分析與建模軟體客戶各有不同的測試需求，從GaN可靠度和CMOS建模，到電磁感應器測試等。利用新的Keysight A-LFNA軟體操作介面，我們提供客戶在晶圓上進行元件雜訊量測與建模的能力，同時還提供完整且靈活的量測選項，從直流、電容到微波頻率上的S參數量測，一應俱全。」

是德科技與Cascade Microtech的密切合作，促成了這套緊密整合的晶圓級解決方案的問市，以便為所有主要晶圓探測系統提供自動化控制功能。（編輯部陳復霞整理）