帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Silicon Labs推出隔離智慧開關系列Si834x
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2019年08月29日 星期四

瀏覽人次:【3179】

Silicon Labs(芯科科技)宣布推出一系列精小、可靠的隔離智慧開關,即使在最嚴苛的工業環境中,依舊能驅動任意負載。

Si834x系列產品提供耐用、可靠的開關能力,具備最佳保護和診斷報告功能
Si834x系列產品提供耐用、可靠的開關能力,具備最佳保護和診斷報告功能

新型Si834x隔離開關非常適合驅動電阻和電感負載,例如工業控制系統中的電磁閥、繼電器和燈照等,這些系統包括可程式邏輯控制器(PLCs)、I/O模組、繼電器驅動器和伺服馬達控制器等。每個開關均進行電氣隔離以確保安全性,採用Silicon Labs卓越的CMOS隔離技術,相較於傳統的光耦合器隔離具備更高的可靠度和效能,包括超過100 kV/μs的高共模瞬變抗擾度(CMTI)。

Si834x隔離開關系列產品支援高側和低側開關選項、低導通電阻(145 mΩ RON)、符合IEC 61131-2標準高達700mA的連續電流、廣泛的保護和診斷措施、以及用於工業自動化系統的先進配置、監測和控制。開關邏輯介面可如同4個低功耗CMOS數位輸入簡單,也能像全串列外設介面(SPI)般豐富和靈活地透過4個MCU接腳控制多達128個通道。

Silicon Labs副總裁暨電源產品總經理Brian Mirkin表示:「新型Si834x隔離智慧開關系列產品展現Silicon Labs三代工業自動化隔離創新,Si834x系列產品擴展了更廣泛的隔離器產品組合,結合我們的PLC輸入隔離器和隔離FET驅動器提供完整的解決方案。Si834x隔離開關具備完全整合的24V數位輸出解決方案,其一流的開關保護、靈活的配置和全面的診斷回饋優於光耦合隔離器、功率FET和其他競爭選項。」

精密的開關和負載監測技術,加上對變動條件的迅速反應,使Si834x隔離開關成為可驅動各種負載之強大、靈活的解決方案。每個隔離開關均可檢測出斷路狀況,並防止因為退磁(電感性反衝或返馳式電壓)引起的過電流、過電壓和過溫狀況。創新的多電壓智慧鉗位可有效處理無限制的退磁能量。過流保護包括競爭產品不具備的湧浪電流模式,其允許開關驅動具有挑戰性的負載。

Si834x隔離開關實現更佳的電感式負載驅動效能,以及更安全的過載保護,透過採用創新、快速的開關阻抗和鉗位電壓控制,相較其他競爭產品可免除常見的低效率、減損壽命可靠度或複雜的冷卻解決方案。某些解決方案在進入故障狀態可能停止運行,但Si834x隔離開關能夠在受限但維持功能、減少通道效能的條件下繼續運行,大幅提升系統正常運行時間。

隔離開關具備成熟的邏輯介面和8個獨立的診斷報告,為每個開關提供前所未有的細節和控制,使Si834x元件成為市場上最具靈活性的開關。診斷可透過SPI配置、監測和清除,或輸出至低電位有效、開汲極指示接腳以便於存取。診斷通訊並獨立於隔離柵上的開關控制訊號。獨立的隔離通道和持續的故障監測可確保最高的裝置可靠度,並為系統操作人員提供開關及其隔離柵另一側負載表現的詳細資訊。

4通道Si834x隔離智慧開關現已量產並可提供樣品,支援裸露焊盤(ePAD)的精小型9mmx9mm DFN-32封裝。具備並列介面的Si834x4x隔離開關,採購量達10萬個時,產品單價為1.90美元。支援SPI介面的Si834x8x隔離開關採購量達10萬個時,產品單價為2.09美元。為簡化開發並加快產品上市時間,Silicon Labs並提供具備並列或SPI介面及流入/流出輸出選項的Si834x評估套件。

關鍵字: 智慧開關  Silicon Labs 
相關產品
Silicon Labs xG26系列產品支援多重協定無線裝置應用
Silicon Labs推出整合電路xG27 SoC和BB50 MCU系列
芯科FG25 sub-GHz SoC全面供貨 提供長距離、低功耗傳輸
Silicon Labs推出BG24和MG24模組 使開發人員加速裝置上市
Silicon Labs推出Bluetooth定位服務方案 實現高效醫護追蹤
  相關新聞
» 茂綸代理VAST Data推動數據儲存高成效
» 英業達與VicOne合作打造智慧及安全之車輛座艙系統
» Palo Alto Networks:安全使用AI以應對日益嚴峻的網路威脅
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» InnoVEX 2025沙龍座談 助新創搶攻亞洲市場
  相關文章
» 光通訊成長態勢明確 訊號完整性一測定江山
» 分眾顯示與其控制技術
» 新一代Microchip MCU韌體開發套件 : MCC Melody簡介
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 公共顯示技術邁向新變革

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.135.212.183
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw