Teradyne宣布推出最新的D750Ex LCD 驅動IC測試系統(D750Ex LCD Driver Test System)。D750Ex專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。奇景光電(Himax Technologies Limited)為位於台灣的無晶圓驅動IC設計廠商，採用此系統測試其下一代的大尺寸驅動器與手機驅動IC。奇景光電目前使用D750Ex進行生產。

奇景光電的業務包括設計、開發、行銷對平面顯示器至為關鍵的半導體產品。奇景光電的技術長蔡志忠表示：「我們選擇了D750Ex是因為這套系統生產效能高、體積小，非常能符合我們在生產、產品上市以及測試成本方面的需求。D750Ex的彈性轉換功能讓我們不但可以測試LCD驅動IC，也能於同一平台上測試邏輯設備。」

D750Ex系統確實提供了一個每腳端(Pin)高密度資源的架構，可支援整體程式超過97%的平行測試效率。D750Ex 也同時具備嵌入式DSP與中央式DSP的架構，可增加處理效能。此系統的體積很小，與必須同時使用大型電腦櫃和測試頭的競爭對手系統相較，所需的空間減少了50-85%。D750Ex採用一萬用介面埠(Universal Slot)的架構，可根據設備測試需求將多種類型設備放置於同一系統中。D750Ex也提供了記憶體測試選項(Memory Test Option, MTO)，無須額外的埠即可在一次完成測試行動驅動IC。在競爭對手的系統上，行動設備必須於兩個平台上測試，一個平台測試LCD，另一個平台測試記憶體。D750Ex適用於各通道的「任一腳端」架構，大幅簡化了探針卡的設計，也使得多點測試的開發環境更為彈性。