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爱德万即将参与线上虚拟SEMICON SEA大会展示IC测试方案
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2021年08月18日 星期三

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半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest Corporation)将于8月23至27日参与东南亚国际半导体展(SEMICON Southeast Asia,简称SEMICON SEA)虚拟展示大会,与会分享其最新测试技术,以及数位展示针对百万兆级运算、5G和记忆体应用最新IC测试解决方案。大会将安排虚拟摊位,协助爱德万测试专家与客户透过线上聊天与私人视讯工具即时互动。

在本次「Converging Technologies. Advancing the Future」主题,爱德万测试将展示旗下最新测试解决方案,致力加速推动人工智慧(AI)、百万兆级运算、5G与高速记忆体等革命性应用的发展。

预计于爱德万测试虚拟摊位亮相的测试解决方案,包括:

‧ 最新:V93000 EXA Scale系统单晶片(SoC)测试系统,能测试运算效能达百万兆级(Exascale)的数位IC。

‧ 记忆体与预烧测试平台,包括MPT3000系列测试系统,结合热控制能力与高通量测试,能针对包括PCIe Gen 4在内之固态硬碟(SSD)进行极端温度测试。

‧ 智慧测试单元解决方案,针对包括资料追溯与预测性维修等工厂自动化作业。

關鍵字: IC测试  愛德萬 
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