ISAP为在天线与传播领域中为一非常重要国际会议，其收录的论文大都具有丰富的创意及极有学术研究的价值性。2008年10月27日至30日在台北国际会议中心的ISAP 2008国际天线与电波传播研讨会暨展示会上，罗德史瓦兹(Rohde & Schwarz,R&S)将展示其全面领先的射频和微波测试解决方案。

随着集成电路的频率越来越高，积体的晶体管数目越来越多，集成电路的电源电压越来越低以及加工芯片的尺寸缩小，芯片级电磁兼容性的测试即显得格外重要。R&S认证型EMI测试接收机R&S ESCI、ESU，搭配不同的附件，即可完成集成电路电磁发射测试，R&S ESCI和ESU同时具有接收机和频谱仪的功能，完全符合标准CISPR16-1-1；展出的R&S ESU同时拥有综合测试功能以及一整套各种型式的检波器，包括CISPR-RMS检波器，射频扫描型，中频分析与弹性化的测试报告格式。最高频率范围分别可从20Hz到8GHz，26.5GHz与40GHz。

在通用量测方面，R&S提供完整的讯号产生器及频谱分析仪，展出的R&S SMF100A是一部以极高的功率输出和-115dBc良好单边带相位噪声获得市场一致好评的微波讯号产生器；其适用于多种长途通信与雷达方面的测试。在位准与频率设定时间分别仅需4毫秒和3毫秒，毋需外加放大器，便可提供+26dBm的输出功率，输出频率范围可达22GHz。

向量信号产生器R&S SMU200A可支持现代通信系统在研究、开发和生产的所有要求，除了整合两个独立的信号产生器到一台设备中，还拥有强大的衰落仿真功能，可以仿真单信道40径或者双信道20径的衰落环境，每个路径均可进行相应参数的设置，如损耗、延时、移动速度、多普勒频移等。频谱分析仪R&S FSU67拥有从20Hz到67GHz的连续频率范围，可以一次完成谐波测量而无需更改设置，有利于微波组件的研发和生产应用，例如振荡器、52GHz或58GHz频率范围的短程微波连接组件、60GHz波段的本地无线传输系统，以及航天国防领域。

针对芯片的S参数测试，R&S也提供了卓越的解决方案。R&S ZVA/B系列向量网络分析仪在测试速度、动态范围、灵活性和测试精度上都即为出众。它的双源四埠结构可实现多埠测试、平衡测试、混合参数测试以及独特的真差分测试；多种的校准技术（TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM）大幅提高了测试的灵活性；放大器与晶圆电路测试也需要用到脉冲信号以避免过热的情况发生。藉由使用R&S ZVA-K7软件选项，R&S已将脉冲量测整合进高阶网络分析仪R&S ZVA当中，提供一套紧致且划算的测试方案。12.5奈秒(ns)的时域分辨率可实时地获得绝对位准、S参数与其他相关的量测数据。