Agilent Technologies（安捷倫科技）針對RF網路分析儀，推出一套混波器量測能力。Agilent E5070B/71B-008 ENA RF FOM（頻率偏移模式）選項可在一部儀器中，同時提供向量和純量混波器校準功能，不需外接PC即可提供準確的混波器量測能力。FOM選項提供兩種新的混波器校準方法，可讓研發和製造工程師更準確地量測出諸如RF混波器和轉換器等頻率轉換元件的特性，以提高產品的品質和效能。

安捷倫科技射頻與微波通訊事業部的副總裁兼總經理Pat Byrne指出，ENA RF網路分析儀的頻率偏移模式選項可提供完善的校準方法，將向量和純量校準──量測能力整合在單一套解決方案中，能夠提供準確的新型量測能力，協助解決今日愈來愈複雜之通訊元件的測試需求。

除了提供頻率偏移掃頻、外部信號源控制、以及固定IF/RF的量測能力之外，ENA配上FOM選項也是唯一能夠讓工程師進行非線性量測的RF產品，其功能特性包括，向量混波器校準：RF工程師能夠進行極為準確的absolute group delay（絕對群組延遲）量測，可用來驗證RF元件的相位線性度。純量混波器校準：可自動修正待測元件的輸入和輸出埠不匹配所造成的誤差，以提供RF工程師最準確的conversion loss（轉換損耗）量測能力。旁生雜訊過濾功能：可讓工程師過濾掉所產生的旁生雜訊信號，不需使用外部的濾波器，即可消除RF和LO信號的諧波，以簡化混波器的量測。

FOM選項也可以提供諧波量測能力，相較於使用頻譜分析儀和信號源所做的量測，其速度更快，準確度更高。諧波量測可用來評估半導體切換器、放大器以及前端模組等元件的非線性特性。