账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
安捷伦发表信号完整性分析系列应用手册
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2007年09月06日 星期四

浏览人次:【2160】

安捷伦免费提供有关信号完整性分析的三部曲系列应用手册。这三本有关信号完整性的应用手册是非常实用的工具书,有助于产生topology model(架构模型)、S参数行为模型、分析上升时间恶化的特性、互连带宽、近端和远程的串音、odd mode(奇模)、even mode(偶模)、差模与共模阻抗、模态转换、以及完整地分析差动信道的特性。此系列应用手册主要着墨的重点在于如何运用简单的方法,迅速取得宝贵的信息,以协助您第一次就将设计做对做好,尽量减少反复设计的次数。

第一部曲探讨的是时域反射仪(TDR),本文将说明何以TDR不光只是一个用以了解传输线的阻抗不连续性的简单雷达站而已,TDR还可以运用在超过 40种特性量测、modeling(模型化)、以及仿真的应用中。

第二部曲探讨的是4埠的TDR,并搭配向量网络分析仪(VNA)和安捷伦的物理层测试系统(PLTS)使用。本文将介绍如何搭配VNA,运用4埠的TDR来进行高速与数字设计中,超过100种重要的特性量测、模型化、以及仿真等应用。另外,也说明了如何运用PLTS应用软件进行互连分析,加上容易使用的TDR,充分发挥出VNA的威力。

第三部曲探讨的是反嵌入的主题,本文将详细介绍何以反嵌入法是先进的信号完整性量测及校验应用中,常采用的一种基本而重要的误差修正方法。文中会就几种不同的误差修正方法与反嵌入法相互比较,主要的目标是要将测试夹具造成的artifact(假象波形)减到最少,例如注入损耗、反射和相位误差等。欢迎您到上网免费下载 www.agilent.com/find/plts 或 www.agilent.com/find/multiport

關鍵字: Agilent 
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BN7PM0LKSTACUK9
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw