爱德万测试(Advantest Corporation)将在1月31日至2月2日於首尔COEX会展中心盛大登场的SEMICON Korea展示创新测试解决方案。爱德万测试也是今年度SEMICON Korea和期间产业领袖餐会 (Industry Leadership Dinner) 的白金级赞助商。餐会将於1月31日晚间举行。

爱德万测试将在位於C展馆的第510号摊位展示先进IC测试解决方案，包括专为次世代RF IC设计的V93000 Wave Scale平台、针对高速记忆体IC测试的V93000 HSM16G系统，以及为显示器驱动IC (DDI) 打造的T6391测试机台。

爱德万测试在今年的展览摊位上将展示T2000平台的各种配置，譬如小型测试机台T2000 AiR，是为了因应物联网(IoT)装置量少但高度整合(Low Volume and High Mix)的系统级测试需求；为PMIC和24位元音讯解编码器测试需求所设计的T2000 IPS；用於高速CMOS影像感测器测试的T2000 ISS；以及T2000 RECT680 0.35mm pitch IC高阶测试介面。

在创新测试解决方案方面，爱德万测试将展示由EVA100测量系统与HA7200组成的温度与压力测试单位，用於类比、数位和混合讯号元件量产级测试；专为测试高效能通用快闪储存装置和固态硬碟(SSD)而设计，成本效益表现优异的T5851系统；以及瞄准SSD测试需求，富弹性的MPT3000系列测试机台。此外，爱德万测试大受好评的T5503系列也将於会上展出，该系列针对行动应用和伺服器所使用之次世代记忆体IC提供最隹解决方案。

除此之外，爱德万测试亦将展示探针卡、高速记忆体装置介面以及电子束度量与微影解决方案，包括能满足1X奈米节点技术所需解析度的F7000电子束微影工具，和E3310、E3640、E5610扫描式电子显微镜 (SEM) 度量系统。

透过现场示范、数位图像说明和详细的产品展示，与会贵宾将能深入了解爱德万测试专为韩国市场打造的最新IC测试技术，以及通过严谨测试的解决方案。

来自爱德万测试的Ok Su Kim将於1月31日 (三) 下午1:40，在COEX会展中心318室举行的测试论坛，发表「第五代RF测试解决方案」(5-Gen, RF Testing Solutions) 技术论文。