美商吉时利仪器公司（Keithley）日前针对Model 4200-SCS半导体特性分析系统进行了全面的硬件、韧体和软件升级，7.2版的Keithley Test Environment Interactive（KTEI）升级软件包含了九种新的太阳能电池测试函式库，针对系统电容-电压（C-V）量测功能扩展的频率范围，支持吉时利最新的Model 4200-SCS九插槽机架。

KTEI 7.2

KTEI V7.2新增的太阳能电池测试函式库扩充了Model 4200-SCS支持I-V、C-V和电阻测试应用的功能，在人们对替代能源的兴趣大增以及政府大力支持的情况下，这些测试功能显得越来越重要。该款软件升级也支持最新的太阳能电池测试技术DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling），DLCP能够提供薄膜太阳能电池上的缺陷密度（defect density）信息，该测试技术若采用之前的测试方案是很难精确实现的。此外，Keithley在2007年11月份所推出的Model 4200-CVU（电容-电压单元）测试卡可轻易经由修改来支持DLCP测试技术。

为支持DLCP测试，Model 4200-CVU的频率范围已经从10kHz–10MHz向下扩展到1KHz–10MHz。扩增后的频率范围也扩大了系统的应用领域，能够支持平面LCD和有机半导体─如有机发光二极管（organic light-emitting diodes,OLED）的测试。

随着I-V、脉冲和C-V特性分析应用的不断增长，需要更大测试弹性和更强测试功能的Model 4200-SCS用户逐渐发现他们的主机有些不敷使用。为了解决这个问题，KTEI 7.2版支持九插槽机架。以前，Model 4200-SCS只有八个插槽，却有越来越多电源量测单元（SMU）、脉冲产生器、示波器卡以及电容-电压测量卡安装的需求。现在的Model 4200-SCS系统经过升级可以支持九个插槽；所有新的主机都将提供九个插槽。

为了支持7.2版的升级，吉时利还推出了新款高性能三轴缆线套件（triaxial cable kit），用于连接Model 4200-SCS和探针台，能够大大简化在直流I-V、C-V和脉冲测试之间转换的过程。这款新的缆线套件无需用户重新布线，也能够消除由于布线误差导致的测量误差。新款的缆线套件有两种版本现正供应中─一种适用于Cascade Microtech探针台；而另外一种适用于SUSS MicroTec探针台。

KTEI 7.2版已针对现有的Model 4200-SCS系列提供免费升级方案。但是，对经过升级的4210-CVU进行校准以及升级现有的4200-SCS系统支持九插槽结构则需另外收费。