ISAP為在天線與傳播領域中為一非常重要國際會議，其收錄的論文大都具有豐富的創意及極有學術研究的價值性。2008年10月27日至30日在臺北國際會議中心的ISAP 2008國際天線與電波傳播研討會暨展示會上，羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz,R&S)將展示其全面領先的射頻和微波測試解決方案。

隨著積體電路的頻率越來越高，積體的電晶體數目越來越多，積體電路的電源電壓越來越低以及加工晶片的尺寸縮小，晶片級電磁相容性的測試即顯得格外重要。R&S認證型EMI測試接收機R&S ESCI、ESU，搭配不同的附件，即可完成積體電路電磁發射測試，R&S ESCI和ESU同時具有接收機和頻譜儀的功能，完全符合標準CISPR16-1-1；展出的R&S ESU同時擁有綜合測試功能以及一整套各種型式的檢波器，包括CISPR-RMS檢波器，射頻掃描型，中頻分析與彈性化的測試報告格式。最高頻率範圍分別可從20Hz到8GHz，26.5GHz與40GHz。

在通用量測方面，R&S提供完整的訊號產生器及頻譜分析儀，展出的R&S SMF100A是一部以極高的功率輸出和-115dBc良好單邊帶相位雜訊獲得市場一致好評的微波訊號產生器；其適用於多種長途通信與雷達方面的測試。在位準與頻率設定時間分別僅需4毫秒和3毫秒，毋需外加放大器，便可提供+26dBm的輸出功率，輸出頻率範圍可達22GHz。

向量信號產生器R&S SMU200A可支援現代通信系統在研究、開發和生產的所有要求，除了整合兩個獨立的信號產生器到一台設備中，還擁有強大的衰落模擬功能，可以模擬單通道40徑或者雙通道20徑的衰落環境，每個路徑均可進行相應參數的設置，如損耗、延時、移動速度、多普勒頻移等。頻譜分析儀R&S FSU67擁有從20Hz到67GHz的連續頻率範圍，可以一次完成諧波測量而無需更改設置，有利於微波元件的研發和生產應用，例如振盪器、52GHz或58GHz頻率範圍的短程微波連接元件、60GHz波段的本地無線傳輸系統，以及航太國防領域。

針對晶片的S參數測試，R&S也提供了卓越的解決方案。R&S ZVA/B系列向量網路分析儀在測試速度、動態範圍、靈活性和測試精度上都即為出眾。它的雙源四埠結構可實現多埠測試、平衡測試、混合參數測試以及獨特的真差分測試；多種的校準技術（TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM）大幅提高了測試的靈活性；放大器與晶圓電路測試也需要用到脈衝信號以避免過熱的情況發生。藉由使用R&S ZVA-K7軟體選項，R&S已將脈衝量測整合進高階網路分析儀R&S ZVA當中，提供一套緊緻且划算的測試方案。12.5奈秒(ns)的時域解析度可即時地獲得絕對位準、S參數與其他相關的量測數據。