安捷倫（Agilent）宣佈，力晶半導體12M新廠決定採用Agilent 4070系列之高精密參數測試系統，以執行產品之晶圓參數測試Wafer Acceptance Test(WAT)。

安捷倫科技之Agilent 4070系列提供了卓越品質, 高穩定, 及高輸出(throughput) 之完整參數測試解決方案，能完全符合業界對於產品之嚴格參數測試需求。Agilent 4070系列的高準確及穩定性可以支援各不同階段的製程技術, 並具備了擴充彈性。我們相信Agilent 4070系列不僅可以解決業界發展90奈米晶圓製程的量產測試需求，也可以支援下一世代製程的參數測試需求。

Agilent 4070系列是為使用者信賴的WAT測試平台.其穩定,高準確的性能表現不僅為世界各大半導體廠所採用, 並持續榮獲VLSI research大獎之肯定。Agilent 4070系列是專為晶圓參數測試之嚴苛挑戰而設計的，具有可擴充之彈性架構 , 所配置的機種及選項可支援各階段之製程技術。