Tektronix(太克科技)日前發表光學測試系統實體層量測應用之新系列產品，它為密集波長分割多工 (DWDM) 元件及網路元件的光學設備製造商設定高準確度、高解析度，及高生產率之新效能測試。Tektronix OTS9600 系列的光學測試模組，是Tektronix光學測試系統 (Optical Test System，OTS) 產品系列的新產品類別。這是一套掃描波長量測系統，特別用來處理被動光學元件之實體層測試。OTS9600 系列透過其領先業界的解析度、毫奈米pm (picometer) 層準確度，及高動態範圍之技術，讓各公司能在光學研究、開發，及製造上有突破性的進展。它最佳化測試時間，並確保製造商生產光學產品時的設備品質，有效地在節省成本的情況下，增加網路頻寬，讓光纖容量達到最大值。

OTS9600 系列的光學測試模組

採用Tektronix正在申請專利中的波長參考技術，掃描波長系統會在每次量測前自動校正，以免除每次測試的手動校正及縮短量測時間。OTS9600 系列為能更進一步地最佳化測試時間及確保產品品質，它提供小於一毫奈米(1 picometer) 準確性及波長解析度，且其量測時間僅需6.5秒，提供現有的各種效能層級的結合。新增由8至88 個通道的擴充性和一個強韌網路/程式設計的環境；此外，OTS9600 系列更可完美的增加製造產能及提昇產品品質。

OTS9600 系列產品亦提供一組新的可調式雷射光源，這是許多不同光學測試應用所需之高性能光學激發。雷射光源不需模式跳躍 (mode-hop)，快調速度及模組化的精簡套件為其特色。OTS9600系列的八通道功率計，是一個快速及高度線性的光學功率計；它具備領先業界供製造現場及網路作業監控功率的強度，因而能提供廣域的動態範圍及八通道的CPCI 模組。