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安捷倫將於國際微波研討會展示最新的測試產品
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2011年05月27日 星期五

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安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,將於6月7-9日在美國巴爾的摩會議中心登場的2011年IEEE MTT-S國際微波研討會 (IMS) 中,展示旗下適用於先進射頻與微波研發及製造的最新設計與測試產品。

台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理張志銘表示,安捷倫的設計與測試解決方案,為工程師提供他們在促進射頻、微波和毫米波電子的研發與設計上所需的工具,已超過65年的時間。在IMS 2011中,安捷倫將展示為現今最先進的應用所打造的尖端解決方案。

在研討會場的攤位上,安捷倫將展示的產品技術包含創新的設計工具、波形分析與特性描述工具、寬頻信號產生與分析解決方案、頻率最高可到50 GHz的毫米波信號分析解決方案、非線性行為分析解決方案、LTE-Advanced實體層測試解決方案、4埠,110-GHz毫米波VNA元件特性描述解決方案、適用於超高速互連分析的16埠,67-GHz VNA解決方案,以及射頻與微波現場測試解決方案。

關鍵字: 安捷倫(Agilent
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