無線射頻量測儀器大廠吉時利（Keithley）今日在台舉行媒體說明會，分別介紹4×4 MIMO RF測試系統以及電容對電壓C-V測試模組解決方案的發展現況。

Keithley事業管理副總裁Mark A. Hoersten表示，MIMO天線技術比起SISO技術具有優勢的關鍵之處，在於MIMO能夠同步（synchronize）且互不干擾地在同一資料通道中傳輸多重訊號。對於射頻IC設計大廠來說，MIMO測試便是決定無線通訊收發品質的重要環節。Keithley所提供的射頻RF測試系統，能夠在同步器的調節之下，整合頻譜分析儀以及射頻訊號產生器，緊密地同步進行MIMO訊號測試，並且在峰值對峰值（peak-to-peak）的訊號測試中，可量測到1nsec的訊號抖動，誤差向量幅度（Error Vector Magnitude；EVM）也能達到-40dB。

Mark A. Hoersten強調，Keithley所提供的4×4 MIMO RF系統解決方案，能夠滿足工程師量測WiMAX、LTE等3.9G正交分頻多工OFDM通訊信號的實際需求，同步訊號測試的高效能品質也是業界中首次所見，在價格上更比既有的2×2 MIMO RF系統方案還要便宜。此外，Keithley所提供屬於PC-based的MIMO訊號分析軟體，能夠讓工程師清楚地藉由功能介面掌握頻率傳送接收訊號的衰減幅度。

在電容對電壓測試模組C-V（Capacitance-Voltage Testing）測試方面，Mark A. Hoersten表示，C-V測試對於45奈米晶片微細化製程、能不能順利進入到32甚至22奈米階段來說，非常重要，因為C-V測試攸關閘極介電材質（gate dielectric）的品質優劣與否。Keithley提升了C-V測試的電源量測單元（SMUs）效能，並且具備雙脈衝訊號產生器，測試電容值可從10-8 Farads提升到10-9Farads，並且Keithley擁有豐富的C-V程式庫內容，能夠讓95％晶圓製造廠以及75％晶圓實驗室在既有的基礎上，提升相關測試品質，因應往後微細化奈米製程C-V測試的需求。