帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
凌華科技6/16舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部 報導】   2016年06月06日 星期一

瀏覽人次:【5399】

凌華科技將於2016年6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳,舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」,偕同致茂電子(Chroma)與能高電子(OpenATE)分享最新量測趨勢與應用,掌握工業物聯網與電子量測關鍵技術,全面破解降低測試成本與提高測試效能之道,以加速產品開發及專案時程。現場並展出半導體檢測、麥克風陣列噪音源定位系統、馬達動平衡與多媒體音頻測試等動態時機展示。

凌華科技將於2016年6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳,舉辦智動化量測關鍵技術研討會。
凌華科技將於2016年6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳,舉辦智動化量測關鍵技術研討會。

凌華科技是PXI Systems Alliance董事會及最高等級會員,於PXI量測領域的優勢主要在系統整合能力,為能夠同時提供平台與板卡產品的廠商,在系統穩定性、相容性和系統整體效能方面具有優勢;堅守高品質,產品從設計到生產各環節有著嚴苛要求;除了標準產品之外,亦有能力針對客戶的特殊要求提供客製化服務。凌華科技透過知識的分享協助客戶因應這些挑戰,並針對時下常見的量測問題提出解決之道。

研討會內容介紹PXI模組化儀器產品在高速高精度訊號量測應用,包括多媒體裝置的音頻檢測方案、高效率電子元件測試解決方案、與振動量測應用於自動化廠房機台故障預測;再從PXI架構談多測試項目的整合與自動化,以及如何運用PXI來實現高速與高精度的電源供應和測量,最後再談PXI 於半導體測試之應用等。從各式量測需求探討如何在追求高精度的同時,達到降低測試成本、提升測試效率,以及透過各產業案例,以深入淺出的方式說明最新量測技術、趨勢與應用。

除了分享量測的關鍵技術與趨勢之外,現場多達七套動態實機展示,使與會者將更清楚地了解實際的量測應用。展示內容包含:半導體檢測、麥克風陣列噪音源定位系統、機械故障預測、與多媒體音頻測試等。以麥克風陣列噪音源定位系統為例,其廣泛應用於汽車、家電、軍工等諸多行業領域中的研發、生產、測試等階段,其中汽車行業應用猶多。據了解,麥克風陣列量測可用於汽車全方位測試,例如儀錶盤異音測試、旋轉機械噪聲源測試、汽車音響及車門異響測試、風洞密封條效果評估等。

鑒於精密加工需求增加,高轉速迴轉機械的振動控制與檢測已成關鍵技術,另外,工業機械因為經常性的衝擊振動,零件和材質容易老化、損耗,而影響機械的精確度,進而造成故障。如何及早發現問題並預測機器壽命,以採取預防性的維修或及時更新設備,可以避免因為故障或長時間當機造成工廠的巨大損失。透過這樣的需求,凌華展出馬達動平衡展示。

隨著智慧手機與平板電腦等產品的迅速發展,多媒體影音功能也逐漸成為衡量手機等終端效能的重要指標,手機廠商對音頻測試的需求也因而日益提高。能夠滿足高精度測試要求、自動化的、穩定的系統測試平台成為製造商對於音頻測試的新訴求。本次研討會中所展示的音頻測試解決方案為製造商提供了一套極具成本效益的解決方案。採用凌華科技的PXI測試平台,搭配凌華科技專為音頻、雜訊與振動領域設計的PXI-9527、PXIe-9529等高解析度動態訊號擷取模組,使用者可以搭建一套高效能、高精度的音頻測試系統,同時,系統還具有良好的擴充和升級能力。

研討會除了分享先進量測關鍵技術與趨勢,動態實機展示應用案例之外,會議中亦提供精美茶點與抽獎活動,研討會報名時間即日起至2016年6月12日止。

[展會訊息]

˙活動名稱:智動化量測關鍵技術研討會

˙活動時間:2016年6月16日(四) 下午13:30至17:00

˙活動地點:台北矽谷國際會議中心2B會議廳 (新北市新店區北新路三段223號2樓)

˙活動報名:https://ssl.digitimes.com.tw/OnLine4/DataInput.asp?ProdGroup=053A50616-0

˙活動資訊:http://www.digitimes.com.tw/seminar/Adlink_20160616/index.asp

關鍵字: 工業物聯網  電子量測  半導體檢測  麥克風陣列噪音源定位系統  馬達動平衡  多媒體音頻測試  凌華科技 
相關新聞
凌華賦能AI轉型 驅動智慧製造永續發展
研華推動多元、開放與標準化Edge AI 攜伴打造最佳應用方案
[CES] 凌華攜手TIER IV、友達 展示自駕與智慧座艙安全高效技術
[自動化展] 凌華科技以邊緣運算創新 與夥伴共創工廠智慧化與低碳化
[COMPUTEX] 信驊影像處理晶片新應用 聚焦工廠巡檢與PFR伺服器安全
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.191.195.105
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw