测试、量测及监测仪器厂商Tektronix宣布发行Serial ATA 3.0版标准物理层测试的第一套测试程序。Tektronix针对SATA物理层设计和侦错提供完善的高速串行数据测试组合。

Tektronix第一套测试程序Serial ATA 3.0版标准物理层测试

Serial ATA储存接口的第三代规格最大传输速度将从3Gb/s倍增至6Gb/s，准备迈向更高性能的储存解决方案，包括新的固态磁盘驱动器和企业商业储存需求。SATA 6Gb/s技术将可以更快的速率移动大量数据，对于高分辨率相片、视讯、音乐和其他多媒体档案数量永远在增加的一般用户而言是一大福音。新的产业标准将加强高性能、低成本接口的诉求，扩大它在数字世界长期储存接口的普及性。

Tektronix提供的高速串行数据技术（包括SATA 6Gb/s）物理层测试功能。例如，Tektronix AWG7000B任意波形产生器系列及其精细分辨率的定序程序可独特地与复杂的状态机互动，进行6Gb/s主机和磁盘的链接状态训练。此外，Tektronix DSA/DPO70000示波器系列具独特多信道机型，可撷取等于或高于5次谐波的6Gb/s传输讯号，提供严格的符合性和侦错测试的更大极限和保真度。

从2008年9月开始于加州Milpitas的SATA-IO Plugfest将使用Tektronix的SATA 3.0标准物理层测试用高速串行测试工作台，进行初步物理层测试。