美商吉時利儀器公司（Keithley Instruments, Inc.），繼榮獲多項大獎的Model 4200-SCS半導體特性量測系統之後，再推出比Model 4200-SCS更先進的脈衝測試軟硬體量測產品。這套半導體實驗室專用的量測系統，結合DC與脈衝測量功能，搭配全方位應用程式工具組，是完整解決方案的最佳選擇。搭載高階脈衝訊號產生卡與全新示波器卡，提供研發人員更強大的工具能力，投入進階半導體研發及生產作業。吉時利榮膺大獎的Model 4200-PIV量測完整解決方案，再推出兩套全新應用解決方案；多用途的Model 4200-SCS遂在DC與脈衝硬體與軟體功能更上一層樓，內容包括快閃記憶體測試、高功率RF元件測試與高階半導體材料脈衝測試功能等等。

此次的全新解決方案，硬體能力大幅強化，例如全新的脈衝訊號產生卡Model 4205-PG2擁有多項全新功能，其中包括專利申請中的Segment ARB模式，允許使用者利用簡單編輯即可輕易產生複雜的波形，Segment ARB功能超越傳統基本脈衝產生的波形，提供更複雜的波形輸出。此項功能是測試快閃記憶體的關鍵要項，因為快閃記憶體需要複雜的波形來測試記憶體單元(memory cell)特性及使用壽命；Model 4205-PG2也搭載任意波形產生器（即ARB模式），及內建超耐用長效型輸出Relay，不但操控簡單，更免除了使用測試快閃記憶體所需外部Relay的麻煩，大幅縮短Endurance測試所需時間。

此外這套系統也採用全新電源供應器，有效擴展Model 4200-SCS系統的支援範圍。Model 4200-SCS允許每個機台可支援4個獨立的脈衝訊號產生器卡-4205-PG2。每片Model 4205-PG2具有兩個通道，Model 4200-SCS測試系統每個機箱最多可支援8個脈衝訊號通道。此外Model 4205-PG2系統可連接外部訊號觸發源，接收觸發輸入訊號，讓單一機台內多片脈衝卡得以相互同步在10個微毫秒之內。