账号:
密码:
最新动态
 
产业快讯
 
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix推出Superspeed USB测试解决方案
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍报导】   2009年06月10日 星期三

浏览人次:【4279】

Tektronix宣布推出适用于Superspeed USB(USB 3.0)装置之特性分析、除错和自动化兼容性测试的全新完整工具组。全新的选项USB-TX搭配DPO/DSA70000B示波器,提供可验证USB 3.0发送器装置的单键式解决方案,使工程师能够以更有效率的方式,将其设计产品推出上市。此外,该公司亦推出全套的USB 3.0测试治具,让工程师能够执行更准确的「发送器」、「接收器」和「缆线」测试。

DPO/DSA70000B系列示波器
DPO/DSA70000B系列示波器

选项USB-TX建置于TekExpress平台系统,专用于高速串行数据标准的自动化单键测试。TekExpress模块是以标准组织指定与公布的测试需求和「实作方法」(MOI)为基础。所有测试步骤均采自动化,使客户仅需选择想要的测试,即可获得含有通过/失败与边际分析结果的完整报告。除了全新的USB 3.0产品外,目前亦推出支持SATA和DisplayPort的自动化模块。

测试治具将于2009年夏季正式上市。

關鍵字: USB 3.0  Tektronix 
相关产品
Tektronix全新远端程序呼叫式解决方案从测试仪器迅速传输资料
太克4系列B混合讯号示波器 提供更快分析和资料传输速度
Tektronix推出增强型KickStart Battery Simulator应用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4边限测试仪 简化并加速PCIe测试
Tektronix PCI 6.0接收器测试解决方案 满足下一代高效能需求
  相关新闻
» VESA更新DisplayPort 2.1标准加速传输 开启次世代视觉体验
» 晶创主机Nano 助半导体产业创新与升级 打造南部半导体创新枢纽
» 产学医界携手推动数位健康照护检测
» 筑波探讨无线未来 智慧协作与测试创新格局
» 【TIMTOS 2025】台湾三丰扩大量测核心应用 随时随地掌握真实数据
  相关文章
» 6G波形设计与次微米波通道量测
» Valmet新一代湿端分析仪协助提升制程稳定性及质量
» VESA更新DisplayPort 2.1标准加速传输 开启次世代视觉体验
» Spectrum全新多通道GHz数位转换器可高达12个通道
» Anritsu建构高速介面测试标准化平台 与AMD展示支援跨品牌VNA

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2026 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HKA65BNO3MMSTACUKA
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw