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河洛針對邏輯及混合訊號IC推出測試機
 

【CTIMES/SmartAuto 蕭惠文報導】   2011年10月19日 星期三

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河洛半導體日前推出HV-256 IC測試機,此產品針對邏輯或混合訊號IC之測試需要而設計,可透過USB 2.0和PC連結,在測試軟體環境ITE(Integrated Test Environment)下,提供工程開發、量產測試失敗分析及良率改善等功能。

河洛表示,此機支援TTL、GPIB、RS232等通訊介面,可與坊間元件分類機(如HI-LO HL-930等)或晶圓針測機(如TSK Prober)連結,可對16個待測元件同時進行測試量產。

HV-256 IC測試機可進行DC、AC及功能性測試。256個測試通道可提供電壓表、電壓/電流檢測、恆壓、恆流源流出/流入、上拉/下拉電阻、主動負載、時間參數測量、並內建任意波形產生器及波形量化器等功能,提供高規格性價比。機台體積精簡,能因應待測IC特定需求,具客製化之彈性。

關鍵字: 河洛 
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