帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix高性能示波器新增抖動分析軟體
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2005年02月17日 星期四

瀏覽人次:【1371】

Tektronix, Inc.發表TDSJIT3第2版(TDSJIT3 v2),一套在高性能Tektronix示波器上提供快速、準確及易用的抖動與時序量測的軟體組件。TDSJIT3 v2裡的量測精靈採用先進的Tektronix專業知識,提供您實現快速及易於抖動量測與分析的逐步指引。

/news/2005/02/17/1754548945.jpg

工程師與技術人員必須有效地設計、偵錯及測試裝置,務求縮短上市時程、降低開發成本、提高製程效率及產品品質。其中一項關鍵要素是裝置、元件和系統時序雜訊(抖動)的量測與特性分析。抖動量測佔有舉足輕重的地位其應用包括串列與並列系統記憶體匯流排(例如PCI-Express、DDR及Rambus所使用的) 的標準符合性測試與偵錯。

Tektronix示波器產品副總裁Colin Shepard表示:「即使在複雜的時脈與資料訊號上,TDSJIT3 v2一樣能夠有效地量測抖動,幫助客戶達到生產力的新境界。工程師與技術人員利用量測精靈,能夠迅速地分析時脈與資料訊號上的複雜抖動,更容易執行深入的設計、偵錯、特性分析及設計驗證。」

關鍵字: Colin Shepard  測試系統與研發工具 
相關產品
Tektronix全新數位螢光示波器問世
Tektronix將MyScope視窗控制介面推展至示波器上
Tektronix將多項分析技術特長融入RT-Eye軟體中
太克科技提供Pinpoint觸發系統下載服務
  相關新聞
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BN2W06A0STACUKH
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw