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宜捷威與宏綱科技合作 推出LD高溫測試系統
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2005年07月25日 星期一

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宜捷威推出和宏綱科技合作之LD高溫測試系統FLT-704,此系統採用IC BUTN-IN作法,烤箱內完全採用PCB和插座做為電流導通之介質,不採用易劣化之電線,且把高溫爐和控制室整合在一個機箱內,所以外部除了電源線外,看不到多餘之電線,整個系統在外觀上非常簡潔,並採用觸控螢幕做為人機界面,操作簡單易懂。

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FLT-704為LD驅動電流0~200mA與PIN-TIA驅動電壓0~10V,可由人機界面設定,每個Channel最高驅動電流為200mA。而此系統最大的特色是LD系統共有24個測試盤,並分成四組,即每盤64顆LD,每組6盤,PIN-TIA系統也有24個測試盤,分成二組,即每盤64顆PIN-TIA,每組12盤,兩者皆可獨立由觸控螢幕上設定燒測電流值與電壓值。LD在燒測時,TO-Can內的PD可同以5~25V的電壓,提供逆偏BURN-IN與 PD之逆偏電壓,二個OVEN也可獨立設定測溫度,溫度範圍R.T.~150℃,燒測時間為0~9999.9小時,同時實際燒測時間也會示在觸控螢幕上,當燒測時間結束時,系統會自動OFF電流、電壓、溫度,即本系統具有定時功能。且LD的腳位由驅動電路板上的跳接線選擇。

關鍵字: LD高溫測試系統  宜捷威  測試系統與研發工具 
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