新思科技(Synopsys)宣佈推出PrimeYield，是該公司最新且功能完備的design-yield analysis套裝工具，能夠在設計早期對於製造上的問題進行自動化的矯正。PrimeYield可精確預測design-induced mechanisms對於良率的威脅，而且把automated correction guidance提供給上游的設計執行工具。PrimeYield之中的lithography compliance-checking(LCC)模組與IC Compiler 解決方案可以緊密的連結，為65奈米與更小的晶片設計遇到的litho-related issues，提供迅速的detection與correction。

東芝半導體公司(Toshiba Corporation Semiconductor) 系統晶片設計部門(System LSI Design Dept)的資深經理Yukihito Oowaki 表示，「設計團隊的生產力對於我們極為重要。新思科技的PrimeYield LCC提供了自動化與有效的方法給我們檢查lithography problems，而且提供指引給我們的配置與繞線(place-and-route)環境 ─ IC Compiler。我們對於新思科技PrimeYield LCC技術的效率與精確度備感振奮，而且會把它佈署到我們的standard layout flow裡」。

PrimeYield讓設計業者能夠預覽會影響到65奈米與65奈米以下節點的manufacturability相關問題。PrimeYield以三項核心模組處理這些問題：LCC、model-based chemical-mechanical polishing (CMP)檢查、以及關鍵區域分析(CAA)，讓設計業者在tapeout之前進行更正與修改設計。

PrimeYield與設計執行的緊密連結，使它在IC Compiler之中驅動自動的更正，以及在Star-RCXT工具之中驅動精確的parasitic extraction。所宣佈的也包括了所謂的gold-standard PrimeTime靜態時序分析(static timing analysis)與Star-RCXT擷取工具 (extraction tools)的變異察覺(variation-aware)功能延伸，進一步的強化了設計與製造之間的連結，從而改進65奈米與65奈米以下的設計強度(design robustness) ，以及提升參數良率(parametric yield)。

新思科技的技術長、資深副總裁、暨Silicon Engineering Group總經理Raul Camposano 說：「PrimeYield這項新的解決方案，能夠自動地辨別與解決製造上的問題。而將PrimeYield LCC與IC Compiler配合使用，對於像Toshiba這類全球領先的晶片製造廠商，對於晶片設計時的效率以及加快達成良率等要求，是極有價值的。」